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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0775256 (1977-03-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 0 |
A sizing gage for use with an LVDT probe for producing an output signal representing the deviation of part dimension from a nominally ideal dimension, and a columnar display means comprising vertically arranged light emitting diodes for indicating the degree and sense; i.e., oversize or undersize, o
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