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Method and apparatus for profile scanning 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/22
출원번호 US-0704408 (1976-07-12)
발명자 / 주소
  • Eaton
  • Homer L.
출원인 / 주소
  • Eaton-Leonard Corporation
대리인 / 주소
    Gausewitz, Carr & Rothenberg
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 4

초록

Inspection and verification of configuration of a bent tube is achieved by placing the tube upon a conveyor that moves past a pair of mutually orthogonal optical scanners. Interruptions of a light beam at boundaries of the passing tube are used together with the known beam scan pattern and the known

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Csakvary Etienne (Maurepas FR) Pascal Andre (Palaiseau FR), Apparatus for non-traumatic determination of the mass and the position of the center of gravity of a body.
  2. Sanglert Benkt (Jonkoping SW), Apparatus for scanning cants to determine optimum edging cuts.
  3. Kawahara Atsushi (Yokohawa JA), Device for measuring contour length of a two-dimensional pattern.
  4. Dahlstrom Claes (Vasteras SW) Bang Borje (Vaxjo SW) Tannerstal Harding (Soderhamn SW), Method and device for optical scanning of a series of transversal dimensional values at a board or plank.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Sano Kazuo (Tokyo JPX) Uesugi Mitsuaki (Tokyo JPX) Harayama Masami (Tokyo JPX) Okuno Yoshihiro (Tokyo JPX) Matsunaga Hiroshi (Tokyo JPX) Matsuju Yoichi (Tokyo JPX), Apparatus for measuring a shape.
  2. Ito Isao (Nagoya JPX), Apparatus for measuring contour configuration of articles.
  3. Ito Isao (Nagoya JPX) Tunashima Seiichi (Kasugai JPX), Apparatus for measuring contour configuration of articles.
  4. Pirlet Robert A. (Embourg BEX), Apparatus for monitoring the surface of the charge of a shaft furnace.
  5. Pryor Timothy R. (Ontario CAX), Electro-optical inspection.
  6. Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX), Electro-optical inspection.
  7. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Schmidt Joe (Oceanside CA), Event scanning.
  8. Bragd Gran (Vrnamo SEX), Method and apparatus for measuring an object.
  9. Eaton Homer L. (111 “C”Sequoia Ave. Carlsbad CA 92008), Method and apparatus for measuring and inspecting articles of manufacture for configuration.
  10. George,Ian M., Method and apparatus for measuring centerline runout and out of roundness of a shaft.
  11. Hanna James L. (Ann Arbor MI), Non-contact inspection system.
  12. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  13. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  14. Minamikawa Masayasu (Nagoya JPX) Onabe Yoshiaki (Nagoya JPX) Ono Masanao (Nagoya JPX), Process for measuring contour configurations of articles defined by numerous cylindrical surface portions.
  15. Komatsu, Manabu, Profile measuring apparatus, method for manufacturing structure, and structure manufacturing system.
  16. Knowles Carl H. (Moorestown NJ), Scanning system with array of laser scanner modules to produce complex scan pattern.
  17. Joy Bruce E. (North Huntingdon Twp. ; Westmoreland County PA) Gerkey Kenneth S. (Mt. Lebanon PA) Salmond Bruce K. (Upper St. Clair PA) Appolonia Larry J. (Carroll Township ; Washington County PA), Sonic digitizer coil measurement system.
  18. Lastra, Raúl Andrés, System and method for image selection of bundled objects.
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