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특허 상세정보

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Leverless scale sensor

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01G-003/14   
미국특허분류(USC) 177/211
출원번호 US-0889848 (1978-03-24)
발명자 / 주소
  • Jacobson Walter E. (Meriden CT) Burke John M. (Groton CT)
출원인 / 주소
  • Revere Corporation of America (Wallingford CT 02)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 2
초록
▼

This weighing scale has a platform, a load cell supporting the platform and a base supporting the load cell. The load cell utilizes electrical strain gage elements, which are connected in an electrical circuit controlling an indicator. The scale is constructed to be unaffected by the eccentricity of the load on the platform. The scale is particularly suited for use in retail or other establishments, where loads are placed on the platform casually and rapidly, so that eccentric loading is common. The load cell comprises an integral block of material divid...

대표
청구항
▼

A weighing scale, comprising: a. a platform for receiving a load to be weighed; b. a load cell, comprising: 1. a frame including two horizontally spaced, elongated, vertically extending members and three elongated, vertically aligned, horizontally extending members connected at their ends to the vertically extending members; 2. each horizontally extending member having two horizontally spaced regions of reduced cross-section, the horizontal spacing between the center lines of the reduced cross-sectional regions of the upper and lower horizontally extendi...

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Brendel Albert E. (Lake Orion MI), Force measuring apparatus.
  2. Trozera Thomas A. (437 Pine Needles Drive Del Mar CA 92014), Load cell.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Seed, Aniese E., Cantilever support beam assembly for a load cell and the like.
  2. Griffen Neil C. (Columbus OH) Behrman David M. (Columbus OH), Compensated load cell.
  3. Kupper Walter (Madison NJ) Utzinger Diethelm (Zurich CHX), Scale with cantilever beam strain measurement.
  4. Jacobson Walter E. (Meriden CT), Strain gage type platform sensor.
  5. Lockery Harry E. (Sudbury MA), Unitized weighing apparatus and method for making such an apparatus.
  6. Sashiki Takashi (Nagaokakyo JPX) Matsuno Masaaki (Kyoto JPX) Kobayashi Noboru (Shiga JPX) Mikami Yoshiharu (Kyoto JPX), Weighing apparatus.
  7. Lindstrom John W. (Newfield NY), Weighing conveyor.

IPC 상위 출원인