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Process and apparatus for optically exploring the surface of a body 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/46
출원번호 US-0829936 (1977-09-01)
우선권정보 FR-0026546 (1976-09-02)
발명자 / 주소
  • Clerget Michel (La Celle-St-Cloud FRX) Germain Francois (Pontchartrain FRX) Kryze Jiri (Pontchartrain FRX)
출원인 / 주소
  • Iria Institut de Recherche d\Informatique et d\Automatique (Le Chesnay FRX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 1

초록

In order to determine the positions in space of certain points on the surface of a body, a laser beam is trained upon a selected punctiform area of that surface and two sets of reflected light rays, traveling along divergent paths, are intercepted and focused by one or two objectives upon one or two

대표청구항

An apparatus for optically exploring the surface of a body, comprising: a source of light selectively trainable upon the surface to be explored for distinctively illuminating a generally punctiform area thereof; optical means for intercepting reflected light rays from said punctiform areas, passing

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Sanford Norman R. (Piqua OH), Method and apparatus for detecting characteristic features of surfaces.

이 특허를 인용한 특허 (24)

  1. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  2. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  3. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arieh, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  4. Golrdon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging.
  5. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging.
  6. Brown Ronald D. (Mapleton IL), Adaptive welder with laser TV-scanner.
  7. Idesawa Masanori (Wako JPX) Yatagai Toyohiko (Tokyo JPX), Apparatus for determining the position of a mark on an object.
  8. DiMatteo Paul (Huntington NY) Ross Joseph (Fort Salonga NY), Detection of three-dimensional information using a projected point or line of light.
  9. Clerget Michel (La Celle Saint Cloud FRX) Germain Francois (Limours FRX) Kryze Jiri (Pontchartrain FRX) Poujois Robert (Sinard FRX), Device for the determination of the position of points on the surface of a body.
  10. Dreyfus Marc G. (4 Arnold St. Old Greenwich CT 06870) Pellman Arnold (30 Colony Ct. Stamford CT 06905), Electro-optical contour measuring system.
  11. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Schmidt Joe (Oceanside CA), Event scanning.
  12. Lund Roger E. (Los Angeles CA) Wirick Michael P. (Los Angeles CA), High speed laser pulse analyzer.
  13. Kara Gerald F. (Gravette AR) Sawyer William H. (Chester Springs PA), Inspection and measuring apparatus and method.
  14. West Gordon M. (Loughborough GB2) Jones Peter R. M. (Loughborough GB2), Making measurements on a body.
  15. Ito Giichi (Koganei JPX) Nakano Ichizo (Kanagawa JPX) Shimizu Yuichi (Koganei JPX) Mukai Kosaku (Tokyo JPX) Suzuki Saiju (Chofu JPX), Measurement head for welding machines.
  16. berg Kurt (Jnkping SEX), Method and apparatus for manufacturing a modified, three-dimensional reproduction of a soft, deformable object.
  17. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Shaylor-Billings John D. (Leucadia CA), Method and apparatus for three-dimensional scanning.
  18. Ballabio, Michele; Lo Presti, Gaetano; Montrucchio, Bartolomeo; Orlando, Vincenzo, Method for controlling the deposition of elementary semifinished products in a process for building tyres for vehicle wheels.
  19. Edgar Albert D. (3912 Eton La. Austin TX 78759), Micro-optical tomography.
  20. Idesawa Masanori (Saitama JPX), Optical distance measuring apparatus.
  21. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  22. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  23. Nishiya Takushi (Machida JPX), Position measuring method.
  24. Penney Carl M. (Schenectady NY) Roy Robert N. (Altamonte Springs FL) Thomas Bradley S. (Altamonte Springs FL), Swept aperture flying spot profiler.
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