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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0860206 (1977-12-13) |
우선권정보 | DE-2516619 (1975-04-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 36 인용 특허 : 0 |
A probe for the non-contact measurement of electric or magnetic field strengths has two wave guides provided on a substrate. One of the wave guides has a measurement portion consisting of an electro-optical material or a magneto-optical material in a region of a measurement zone. A magnetic or elect
A movable probe for a point-by-point scanning-like non-contact measurement of electric field strengths in a region of a measurement zone, comprising a first optical wave-guide member having a first index of refraction arranged on a movable substrate means of second index of refraction for movement i
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