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Apparatus and method for measuring interference patterns and interferograms 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/00
  • G01B-009/02
  • G06F-015/36
출원번호 US-0796058 (1977-05-12)
발명자 / 주소
  • Zanoni Carl A. (135 Azalea Dr. Middletown CT 06457)
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 1

초록

An apparatus and method are herein disclosed for measuring interference patterns and interferograms using a standard monochrome closed-circuit television camera. The invention comprises, in one embodiment, means for processing the video output signal of the CCTV camera to obtain the two-dimensional

대표청구항

An apparatus for measuring an interference fringe pattern rapidly and accurately comprising means for putting said fringe pattern into a CCTV system including a camera and a monitor, meaNs for displaying said fringe pattern on said monitor, means for processing the video output of said camera includ

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Enami Toyoichiro (Tokyo JA) Kurasawa Kazuo (Hamamatsu JA) Ii Masaktaka (Hamamatsu JA) Hashimoto Masaru (Fujisawa JA), Photodensitometer for measuring optical fringe patterns.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Altmann Jrgen (Jena DDX) Sanke Heidrun (Jena DDX) Schppe Gnter (Jena DDX) Schtt Wolfgang (Rostock DDX), Arrangement for measuring the mobility of image points of a video image.
  2. Hobbs Donald A. (Solihull GB2) Rowe Geoffrey W. (Birmingham GB2), Automatic measurement of areas.
  3. Hobbs Keith C. (Essex GB2), Data compression.
  4. Tanaka Katsuyuki (Ibaraki JPX) Terashima Seiichiroo (Ibaraki JPX) Takeuchi Yoshinori (Ibaraki JPX) Odaka Toshiko (Ibaraki JPX) Saito Yokuo (Kanagawa JPX), Fine clearance measuring apparatus.
  5. Andersson, Russell L., Image processor using a moment generator.
  6. Schulte,Stefan; D철rband,Bernd; M체ller,Henriette; K채hler,Wolfgang, Interferometer system and method for recording an interferogram using weighted averaging over multiple frequencies, and method for providing and manufacturing an object having a target surface.
  7. Sommargren Gary E. (Madison CT), Interferometric wavefront measurement.
  8. Goldstein, Richard M.; Caro, Edward R.; Wu, Chialin, Method and apparatus for contour mapping using synthetic aperture radar.
  9. Hutchin Richard A. (Marlboro MA), Method and apparatus for range imaging.
  10. Weidman Peter C. (Seattle WA) Woodmansee Wayne E. (Seattle WA), Method and apparatus for the analysis of scanned data.
  11. Hutchin Richard A. (Marlboro MA), Method and apparatus for three frame range imaging.
  12. Haeusler Gerd (Erlangen DEX) Jaerisch Walter (Boeblingen DEX) Makosch Guenter (Sindelfingen DEX), Method and device for testing optical imaging systems.
  13. Rosencwaig Allan (Danville CA), Method for detection of thermal waves with a laser probe.
  14. Liptay-Wagner Nicholas (Windsor CAX) Renaud Roland (Windsor CAX) Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX) Clarke Donald A. (Windsor CAX), New photodetector array based optical measurement systems.
  15. Liptay-Wagner Nicholas (Windsor CAX) Renaud Roland (Windsor CAX) Pryor Timothy R. (Tecumseh CAX) Clarke Donald A. (Windsor CAX), Photodetector array based optical measurement systems.
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