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Electro-optical measuring system using precision light translator 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/10
  • G02B-027/17
출원번호 US-0812774 (1977-07-05)
발명자 / 주소
  • Altman Norman G. (Stamford CT) Worden J. Rodney (New York NY)
출원인 / 주소
  • Altman Associates, Inc. (Stamford CT 02)
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 0

초록

An electro-optical measuring system wherein a scanning laser or light beam is precisely translated in a direction parallel to itself at a constant rate to define a time-varying sensing field whose energy is picked up by a photoelectric detector that yields an output signal. An object whose dimension

대표청구항

An electro-optical measuring system comprising: (A) a source projecting a light beam; (B) a scanner which receives the projected beam and causes said beam to undergo translation in a direction parallel to itself at a constant rate to define a time-varying sensing field, said scanner being a composit

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Oei Ivan KiatHong, Anomally detection machine for fabricated parts formed on a carrier strip and method of use.
  2. Koest,Gert, Device for projecting a light beam.
  3. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Schmidt Joe (Oceanside CA), Event scanning.
  4. Chapman,Mark Adrian Vincent; Lee,William Ernest; Liao,Tingdi, Laser system.
  5. Goszyk Kurt A. (Washington Crossing PA), Non-contact optical gauge.
  6. Schmidt Erick (Edmonton CAX) Grenier Leonard E. (Edmonton CAX) Pallagi Steven (Edmonton CAX), Optical apparatus for scanning radiation over a surface.
  7. Fields Richard A. ; Ferguson Bruce A. ; Kintis Mark ; Kunkee Elizabeth T. ; Lembo Lawrence J. ; Perkins Stephen R. ; Rollins David L. ; Upton Eric L., Optical devices employing an optical thresholder.
  8. Balasubramanian N. (Saratoga CA), Optical leverage telecentric scanning apparatus.
  9. Duck, Graham I.; Hughes, Michael K. Y., Optical translation of triangulation position measurement.
  10. Wu Xiaodong ; Connell G. A. Neville ; Street Robert A. ; Castelli Vittorio ; Anderson Harold M. ; Weisfield Richard, Resolution enhancement by multiple scanning with a low-resolution, two-dimensional sensor array.
  11. Lettington,Alan, Scanning apparatus.
  12. James W. Overbeck, Wide field of view and high speed scanning microscopy.
  13. Overbeck James W., Wide field of view and high speed scanning microscopy.
  14. Overbeck James W., Wide field of view and high speed scanning microscopy.
  15. Overbeck,James W., Wide field of view and high speed scanning microscopy.
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