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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0760130 (1977-01-17) |
우선권정보 | JP-0008518 (1976-01-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 0 |
Method for optically analyzing a specimen by using two light beams comprises steps of initiating automatically wavelength scanning operation when a predetermined time has elapsed after the switching-on of a power source, sampling a ratio between a reference light intensity and a specimen light inten
A method for optically analyzing a specimen by using two light beams, comprising the steps of automatically initiating a wavelength scanning operation of a monochromator after a power source has been turned on and when a predetermined time required to stabilize the operation of the system has elapse
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