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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0818961 (1977-07-25) |
우선권정보 | JP-0141508 (1973-12-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 0 |
An apparatus for measuring the roundness and waviness of workpiece surfaces comprises a first peak-to-peak detector for detecting the absolute peak-to-peak value of the sum of a signal representative of the roundness error of the workpiece and a signal representative of the eccentric center of the w
An apparatus useable in conjunction with a workpiece detector for measuring the waviness of a workpiece circumferential surface comprising: a first peak-to-peak detector for detecting the maximum absolute value of the sum of a signal representative of the roundness error and a signal representative
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