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Fault-detecting apparatus for controls 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05B-017/00
  • G05B-013/02
  • G06F-015/46
출원번호 US-0921074 (1978-06-30)
우선권정보 JP-0079122 (1977-07-04)
발명자 / 주소
  • Kurihara Nobuo (Hitachiota JPX)
출원인 / 주소
  • Hitachi, Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 1

초록

A fault-detecting apparatus comprises a model simulating the input-output characteristics of an object for fault detection. The model includes statics and dynamics and is impressed with the same input as the object for fault detection. The output of the model is compared with the output of the objec

대표청구항

In a fault-detecting apparatus (8) for a closed-loop control system (1, 2 and 3) having an object for fault detection which makes up part of said control system, said apparatus being supplied with digital signals obtained by sampling input and output of said object with a fixed periodic time, and de

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Bartley Thomas M. (Brownsville TX) Giles Richard F. (Bartlesville OK), Gain-adaptive process control.

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Clelford Douglas H. (Trumbull CT) Fowler Donald W. (West Haven CT), Adaptive aircraft actuator fault detection.
  2. Kamajima Kohji (Ibaraki JPX) Nakano Yoshiyuki (Hitachi JPX) Fujie Masakatsu (Ibaraki JPX) Hosoda Yuji (Ibaraki JPX) Iwamoto Taro (Mito JPX) Honma Kazuo (Ibaraki JPX), Control apparatus for multi-jointed arm mechanism.
  3. Danz, Wolfgang; Fischer, Johannes, Control method with a characteristic curve defined by interpolation points.
  4. Yoshikawa Norio (Minamimachi JPX) Hotta Tadaaki (Kyoto JPX), Discrete time control apparatus.
  5. Rawicz Harris C. (Bridgewater NJ) Rizzo Vincent J. (Basking Ridge NJ) Buntemeyer William R. (Washington NJ), Electronic controller apparatus.
  6. Uetani Kenichi (Inazawa JPX), Elevator testing apparatus.
  7. Hitchens Max W. (532 Timber Ridge Dr. ; #301A Carol Stream IL 60187) Rote George B. (614 Willow Wood Dr. ; #107 Carol Stream IL 60187), Material conveying system simulation and monitoring apparatus.
  8. Mitsuoka Toyokazu (Niiza JPX), Method and apparatus for controlling servomechanism by use of model reference servo-control system.
  9. Pyotsia Jouni,FIX, Method and apparatus for detecting a fault of a control valve assembly in a control loop.
  10. Levesque ; Jr. Adelard (North Palm Beach FL) Rembold John P. (North Palm Beach FL), Method and apparatus for detecting failures in a control system.
  11. Widdoes ; Jr. L. Curtis (Sunnyvale CA), Method and apparatus for modeling systems of complex circuits.
  12. Coss, Jr., Elfido; Conboy, Michael R.; Hendrix, Bryce A., Method for requesting trace data reports from FDC semiconductor fabrication processes.
  13. Miller Lane R. (Cary NC), Observer control means for suspension systems or the like.
  14. Kamoshida Mototaka (Tokyo JPX), Production system for manufacturing semiconductor devices.
  15. Araki Mitsuhiko (Kyoto JPX), Self-propagating control apparatus and method, propagating-type controller used by said apparatus, method of operating a.
  16. Rake Heinrich (Aachen DEX) Hoffmann Ulrich (Aachen DEX) Mller Ulrich (Aachen DEX) Breddermann Rudolf (Aachen DEX) Blumbach Rainer (Wrselen DEX), Time-discrete adaptive switching on-off controller.
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