[특허]Device for improving the accuracy of optical measuring apparatus and the like

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Device for improving the accuracy of optical measuring apparatus and the like 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01B-011/02 G01B-011/08
출원번호	US-0033074 (1979-04-25)
발명자 / 주소	Evans Jr. John D. (Kingsport TN)
출원인 / 주소	Eastman Kodak Company (Rochester NY 02)
인용정보	피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 1

초록 ▼

Device for attachment to gauging instruments such as optical measuring apparatus, which measure dimensional parameters of articles by scanning the surface or main profile of the article with a light beam as from a laser, the device employing a leaf spring assembly for bearing against and conforming to a portion of the surface of the article; the leaf spring assembly thereby forming a substitute profile over the main profile of the article or of a transparent article, and suppressing any surface anomalies projecting from the article surface, thus providing a reference surface which may be measured by such gauging instruments as representative of the dimensional parameter of the main profile of the article.

대표청구항 ▼

Device for use with and for enabling gauging instruments, which measure the thickness, diameter, circumference or other dimensional parameter of articles by means impinging or scanning the surface of the article, to make more accurate measurements of transparent articles or of the main profile of an article having surface anomalies projecting from the main profile, said device comprising: a support means; and flexible means connected to said support means for bearing against and conforming to a portion of the surface of the article to be measured and thereby form a substitute profile on the main profile of the article, said substitute profile suppressing any said surface anomalies and providing a reference surface to be measured by said gauging instruments as representative of the article main profile.

이 특허에 인용된 특허 (1)

Petrohilos Harry G. (Yellow Springs OH) Taylor Francis M. (Xenia OH), Light beam shape control in optical measuring apparatus.
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이 특허를 인용한 특허 (15)

White, Kenneth D.; Miller, Warren H.; Ward, Reeder N., Component alignment system for optical systems.
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Wassvik, Ola; Christiansson, Tomas, Detecting the location of an object on a touch surface.
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Wassvik, Ola; Christiansson, Tomas, Detecting the locations of a plurality of objects on a touch surface.
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Ohlsson, Nicklas; Christiansson, Tomas, Detection of surface contamination.
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Christiansson, Tomas; Wassvik, Ola; Bryborn, Mattias, Determining the location of one or more objects on a touch surface.
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Vangal-Ramamurthy, Jambunathan; Vasudevan, Rahool, Flexure based compliance device for use with an assembly device.
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Wassvik, Ola; Bergström, Håkan, Light coupling in TIR-based optical touch systems.
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Evans ; Jr. John D. (Kingsport TN), Method and apparatus for determining cigarette filter rod pressure drop.
상세보기
Boyd Scott ; Krabacher Kenneth Daniel, Method and device for measuring parts.
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Takayama,Yasuharu, Optical measuring device.
상세보기
Wassvik, Ola; Vilhelmsson, Kennet, Optical touch detection using input and output beam scanners.
상세보기
Wall, Henrik, Partial detect mode.
상세보기
Wallander, Mats Petter; Bergström, Håkan, Spatial resolution in touch displays.
상세보기
Wassvik, Ola, TIR-based optical touch systems of projection-type.
상세보기
Christiansson, Tomas; Ohlsson, Nicklas; Andreasson, Markus, Tomographic processing for touch detection.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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