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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0967683 (1978-12-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 0 |
A compensated level measuring system is disclosed for measuring the level of the material housed in a vessel, the system incorporating compensation means for compensating for variations in the dielectric constant of the material. A two element measuring system is used, having a first element mounted
A compensated level measuring system for measuring the level of material housed in a vessel, said material being characterized by certain electrical characteristics such as dielectric constant and conductivity, comprising: a. first probe means having a first probe portion mounted at a fixed position
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