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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0116396 (1980-01-29) |
우선권정보 | JP-0010024 (1979-01-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 51 인용 특허 : 4 |
A novel method and apparatus are provided by the invention for the precision-control of the thickness of thin work pieces under lapping in a lapping machine having an upper and lower lapping surface plates rotatable relative to each other sandwiching the work pieces with continuous supply of a lappi
A method for lapping a thin work piece in a lapping machine having a lower lapping surface plate with an annular lapping surface and an upper lapping surface plate with an annular lapping surface rotating relative to and substantially in parallel with the lower lapping surface plate with said work p
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