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Apparatus for measuring contour configuration of articles

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/24
  • G01B-011/00
출원번호 US-0048735 (1979-06-15)
우선권정보 JP-0110599 (1978-09-11)
발명자 / 주소
  • Ito Isao (Nagoya JPX) Tunashima Seiichi (Kasugai JPX)
출원인 / 주소
  • NGK Insulators, Ltd. (Nagoya JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 2

초록

An apparatus for measuring contour configuration of articles, particularly brittle articles such as ceramic honeycombs without touching them comprising a turn table on which the article to be measured is placed, a rotary encoder mechanically coupled to the turn table for producing a rotational angle

대표청구항

An apparatus for measuring contour configuration of articles comprising; a turn table on which the article to be measured is placed; a detector for detecting a rotational angle of said turn table to produce a rotational angle signal; a light source for illuminating at least a portion of the article

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Eaton ; Homer L., Method and apparatus for profile scanning.
  2. Chen Tung Chang (Villanova PA) Chen Thomas M. (Doylestown PA), System for monitoring the production of items which are initially difficult to physically inspect.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Cheng David, Apparatus for measuring surface topography.
  2. Forbes James A. (P.O. Box 854 Doylestown PA 18901), Apparatus for optically scanning an object.
  3. Moreau, Regis; Martin, Pierre, Device for measuring an internal or external profile of a tubular component.
  4. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Schmidt Joe (Oceanside CA), Event scanning.
  5. Takada Munekazu (Uji JPX) Esaki Toshio (Amagasaki JPX), Method and apparatus for measuring human body or the like.
  6. Cheng David (Sunnyvale CA), Method and apparatus for measuring workpiece surface topography.
  7. Van Ochten Mitchell G. ; Frazer Matthew P., Method for calibrating a tilt inspection system and reference disk assembly for use therein.
  8. Riza, Nabeel A., Methods and systems for realizing high resolution three-dimensional optical imaging.
  9. Migdal Alexander ; Lebedev Alexei ; Petrov Michael ; Zhilyaev Alexander, Modular digital audio system having individualized functional modules.
  10. Boehnlein Albert J. (Ypsilanti MI) Harding Kevin G. (Ann Arbor MI), Non-contact dimensional gage for turned parts.
  11. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  12. Mundy David J. (San Diego CA), Optical probe with overlapping detection fields.
  13. Migdal Alexander ; Petrov Michael ; Lebedev Alexei, Portable 3-D scanning system and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation.
  14. Harding, Kevin George, Side lit, 3D edge location method.
  15. Migdal, Alexander; Petrov, Michael; Lebedev, Alexei; Shelyekhova, Veronika; Abadjev, Vadim; Bernstein, Vladimir; Afanassenkov, Andrei, Structured-light, triangulation-based three-dimensional digitizer.
  16. Migdal Alexander A. ; Petrov Michael ; Lebedev Alexei, System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation.
  17. Petrov,Michael; Migdal,Alexander; Lebedev,Alexei; Shelyekhova,Veronika; Polonskiy,Leonid; Abadjev,Vadim, System and method of three-dimensional image capture and modeling.
  18. Petrov,Michael; Migdal,Alexander; Lebedev,Alexei; Shelyekhova,Veronika; Polonskiy,Leonid; Abadjev,Vadim, System and method of three-dimensional image capture and modeling.
  19. Petrov,Michael; Migdal,Alexander; Lebedev,Alexei; Shelyekhova,Veronika; Polonskiy,Leonid; Abadjev,Vadim, System and method of three-dimensional image capture and modeling.
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