[특허]Probe cleaner

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	B08B-003/02
출원번호	US-0174322 (1980-08-01)
발명자 / 주소	Rossi Gregory R. (Valparaiso IN)
출원인 / 주소	Bethlehem Steel Corporation (Bethlehem PA 02)
인용정보	피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 0

초록 ▼

Apparatus for an automatic system for cleaning a process monitoring probe inserted into a process stream for monitoring said stream. The apparatus comprises a flushing water supply, a high pressure water jet mixed with a cleansing agent and sequential timing apparatus for selectively applying the wa

대표청구항 ▼

Apparatus for cleaning a process monitoring probe inserted into a sample process stream for monitoring thereof, comprising: (a) a sample container having an inlet side and a discharge side and mounted for collection of a sample of said process, (b) a cannister for a cleansing agent having discharge means and mounted adjacent said sample container, (c) flushing water supply means connected to said inlet side of said sample container and to said cannister, (d) sump means connected to said discharge side of said sample container, (e) pump means having a suction side connected to said sump means and a discharge side, (f) a nozzle having an inlet end connected to said discharge side of said pump and a jet spray end inserted into said sample container adjacent said monitoring probe, (g) a first valve mounted in said flushing water supply means, (h) a second valve connected to said cleansing agent cannister and said suction side of said pump, and (i) a third valve mounted on said discharge side of said sample container.

이 특허를 인용한 특허 (14)

Dobrez Daniel J. (Homewood IL) Rybarski Robert J. (Hebron IN), Apparatus and methods for automatically cleaning multiple pieces of equipment.
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Holzapfel Paul ; Yednak ; III Andrew ; Natalicio John ; Goudie Chad, Apparatus for cleaning workpiece surfaces and monitoring probes during workpiece processing.
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Horiuchi, Rie; Suzuki, Yoshihiro; Nakasawa, Takashi, Automatic analyzer.
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Franklin Robert V. (Burbank IL), Cleaning apparatus and method.
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Fred R. Radford ; Drew R. Radford ; Jack D. Howard, Contaminated medical waste disposal system and method.
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Kerwin Michael J. (11108 Fairborough Ct. St. Louis MO 63146) Yam Jacky S. (1752 Legend La. St. Louis MO 63146) Korte Keith G. (106 E. Main St. Damiansville IL 62215) Klefisch ; Jr. Theodore J. (12349, Fluid collection and disposal system.
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Dornow Karl-Dietrich (Kaiser-Friedrich-Ring 96 4000 Dsseldorf DEX), Method and apparatus for controlling peeling machines for peeling fruit or vegetables.
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Kerwin Michael John ; Yam Jacky S. ; Korte Keith G. ; Klefisch ; Jr. Theodore J., Method for a servicing fluid disposal system.
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Cronin, James Timothy; Elkins, Thomas Shields; Helberg, Lisa Edith; Strzelecki, Angela Ruth, Method for cleaning in-process sensors.
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Holzapfel Paul ; Yednak ; III Andrew ; Natalicio John ; Goudie Chad, Method for cleaning workpiece surfaces and monitoring probes during workpiece processing.
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Hicks, Peter D.; Li, Hui; Bradley, Michael E.; Murcia, Michael J.; Schwartz, Joe L., Method of obtaining or maintaining optical transmittance into deaerated liquid.
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Cronin, James Timothy; Elkins, Thomas Shields; Helberg, Lisa Edith; Strzelecki, Angela Ruth, System and method for cleaning in-process sensors.
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Cronin,James Timothy; Elkins,Thomas Shields; Helberg,Lisa Edith; Strzelecki,Angela Ruth, System and method for cleaning in-process sensors.
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Suzuki, Eiichi; Doi, Yukio; Kurokawa, Hayato; Tabata, Yosuke; Iwama, Toshiyuki, Water treatment apparatus and method.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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