$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Thickness measuring apparatus for non-metallic sheet-shaped bodies 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/06
  • G01B-011/14
출원번호 US-0185641 (1980-09-09)
우선권정보 JP-0120801 (1979-09-21)
발명자 / 주소
  • Yazaki Susumu (Hachioji JPX) Matsumura Takeshi (Kodaira JPX)
출원인 / 주소
  • Bridgestone Tire Company Limited (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 3

초록

A thickness measuring apparatus for non-metallic sheet-shaped bodies formed of rubber, plastic or the like which is simple in construction and small in size and can accurately measure the thickness of the non-metallic sheet-shaped body irrespective of high temperature change. It comprises a sheet po

대표청구항

A thickness measuring apparatus for non-metallic sheet-shaped bodies, comprising a projector for illuminating the surface of a non-metallic sheet-shaped body engaged with and traveling across a metal roll, a sheet position detecting mechanism including a light detector for receiving an image of the

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Stauffer ; Norman L., Digital auto focus.
  2. Dreyfus Marc G. (4 Arnold St. Old Greenwich CT 06870) Pellman Arnold (30 Colony Ct. Stamford CT 06905), Electro-optical contour measuring system.
  3. Niemiro Thaddeus A. (Lisle IL), Sensing device for ink film thickness in printing presses.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Shirley, Lyle, Apparatus and methods for optically monitoring thickness.
  2. Mallory Roy (Bedford MA), Contacts for conductivity-type sensors.
  3. Lambert Peter G. ; Binder John ; Frost Ivan E.,GB2 ; Brattoli ; Jr. Stephen F. ; Fritz Eric P., Flat line powder coating system.
  4. Kara Gerald F. (Gravette AR) Sawyer William H. (Chester Springs PA), Inspection and measuring apparatus and method.
  5. Arabi, Michael, Laser caliper measurement of paper material.
  6. Nagao Toshishige (Hyogo JPX) Ariki Masayuki (Hyogo JPX) Ida Yoshiaki (Hyogo JPX), Method and apparatus for measuring film thickness using a second sheet of known thickness.
  7. Tokumaru Makoto (Amagasaki JPX) Nagao Toshishige (Amagasaki JPX) Ariki Masayuki (Amagasaki JPX) Nakano Hideki (Amagasaki JPX), Method for measuring film thickness.
  8. Calvin Timothy Wayne ; Schneider Edward Conrad ; Caillier Scott M., Traversing thickness measurement apparatus and related method.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로