$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

High speed laser pulse analyzer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
출원번호 US-0135408 (1980-03-31)
발명자 / 주소
  • Lund Roger E. (Los Angeles CA) Wirick Michael P. (Los Angeles CA)
출원인 / 주소
  • Hughes Aircraft Company (Culver City CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 23  인용 특허 : 5

초록

Apparatus, including a detector array, analog-to-digital converter, a microprocessor including a memory, and display for determining the total energy, divergence and position of an applied laser beam from a single laser pulse. The detector array is coupled to the microprocessor and computer memory b

대표청구항

A laser system analyzer for determining from a single laser pulse, the total energy, relative position and divergence of a laser beam made incident thereupon, said apparatus comprising: a two-dimensional array of detector elements for detecting laser energy received by respective detector elements f

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Isakov Viktor L. (ulitsa Fedorova ; 1 ; kv. 67 Kiev SUX) Popov Yan Y. (ulitsa Yakira ; 16/18 ; korpus 2 ; kv. 70 Kiev SUX) Vaisberg Tsaly I. (ulitsa Engelsa ; 7/10 ; kv. 24 Kiev SUX) Kharzhevsky Rost, Laser therapy apparatus.
  2. Bumgardner Jon H. (Ridgecrest CA), Means for near real time C-W laser source characterization.
  3. Bumgardner Jon H. (Ridgecrest CA), Means for real-time laser source characterization.
  4. Genna Sebastian (618 Belmont St. Watertown MA 02172) Pang Sing C. (2 Soldier\s Field Pk. ; Apt. #601 Boston MA 02160), Method and apparatus of digital calibration and position analysis of a radiant emission.
  5. Clerget Michel (La Celle-St-Cloud FRX) Germain Francois (Pontchartrain FRX) Kryze Jiri (Pontchartrain FRX), Process and apparatus for optically exploring the surface of a body.

이 특허를 인용한 특허 (23)

  1. Orthwein William G. (P.O. Box 3332 Carbondale IL 62901), Anti-buckling device for mine-roof bolting machines.
  2. Vachon Reginald I. (P.O. Box 1182 Atlanta GA 30301), Apparatus and method for determining stress and strain in pipes, pressure vessels, structural members and other deformab.
  3. Strickland Michael L. (Marietta GA) Olivier James P. (Lawrenceville GA) Conklin William B. (Lawrenceville GA) Hendrix Warren P. (Lawrenceville GA), Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering.
  4. Strickland Michael L. ; Olivier James P. ; Conklin William B. ; Hendrix Warren P., Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering.
  5. Margulis Walter (London GB2) Sibbett Wilson (Hillingdon Heath GB2) Sleat William E. (Ickenham GB2), Apparatus for measuring light beam characteristics.
  6. Stern Howard (Greenlawn NY), Arrangement for measuring depth based on lens focusing.
  7. Schmidt Richard (Huntington NY), Arrangement for rapid depth measurement using lens focusing.
  8. Koseki Ryoji (Buena Park CA), Beam monitor for a high-output laser.
  9. Lipscomb Derrell, Consolidated laser alignment and test station.
  10. Lipscomb Derrell, Consolidated laser alignment and test station.
  11. Swalwell, Jarred E., Cytometer with automatic continuous alignment correction.
  12. Eaton Homer L. (Leucadia CA) Schmidt Joe (Oceanside CA), Event scanning.
  13. Ghosh Amalkumar P., Large area energy beam intensity profiler.
  14. Sakai,Hiroshi, Light intensity distribution measuring method and light intensity distribution measuring device.
  15. Nakamura Takashi (Shiga JPX), Method of measuring the light amount of a display picture element, display screen inspecting method and display screen i.
  16. Cross Michael A. (Severna Park MD) Nichols Edward W. (Reisterstown MD), Multifunction electro-optical system test tool.
  17. Cross Michael A. (Severna Park MD) Nichols Edward W. (Reisterstown MD), Optical beam analyzer.
  18. Stern Howard (Greenlawn NY), Pattern optimization when measuring depth to a surface using lens focusing.
  19. Blais Francois (Vanier CAX), Peak position detector.
  20. Thompson Kevin P. (Danbury CT), Spatial/spectral real time imaging.
  21. Leib Kenneth G. (Wantagh NY) Peck ; II Alexander N. (Rye NY) Jue Suey (Hicksville NY), System and method for automatically fabricating multi-hologram optical elements.
  22. McCann Michael P. (Oliver Springs TN) Chen Chung H. (Knoxville TN), Ultraviolet laser beam monitor using radiation responsive crystals.
  23. Bruckler Joseph M. (Titusville FL) Gordon ; III James A. (Jupiter FL) Scalise Stanley J. (West Palm Beach FL), Wave front sensor.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로