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Multi-clock data capture circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-003/00
  • G06F-003/14
출원번호 US-0160262 (1980-06-17)
발명자 / 주소
  • Morrill
  • Jr. Justin S. (Cascade CO) Hansen John D. (Colorado Springs CO)
출원인 / 주소
  • Hewlett-Packard Company (Palo Alto CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 2

초록

A data capture circuit for a logic state analyzer includes a qualifier pattern comparator circuit that responds to a collection of input qualifier signals by producing a number of qualifier pattern signals each representative of the occurrence of a preselectable pattern in the input qualified signal

대표청구항

A data capture circuit for a logic state analyzer comprising: first and second data signal conditioning means for respective connection to first and second collections of data signals to condition those signals according to preselected thresholds and for respectively producing first and second colle

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Baker Thomas E. (9781 La Zapatilla Cir. Fountain Valley CA 92708) Robertson John P. (2307 Aralia St. Newport Beach CA 92660), Electrical totalizer.
  2. Toman Donald J. (24 Old Farm Road Pleasantville NY 10570), Operating condition data system.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Richter Axel (Wimsheim DEX), Arrangement for the individual adaptation of a serial interface of a data processing system to a data transmission speed.
  2. Druffel James B. (Rosendale NY) Abdollahi P. Peter (Poughkeepsie NY), Compact fluorescent lamp fixture.
  3. Hauge Trygve A. (Wayzata MN), Computer channel analyzer with monitoring and selective display of predetermining events and related data.
  4. Blum Arnold (Gechingen DEX), Decentralized generation of synchronized clock control signals having dynamically selectable periods.
  5. Hung Chuan-Yung (San Jose CA) Bird Everett L. (San Jose CA), Delay circuit for a real time clock.
  6. Perez Paul L., High-performance, low-skew clocking scheme for single-phase, high-frequency global VLSI processor.
  7. Sullivan, Steven K.; Hagen, Michael S., Logic analyzer using a digital filter.
  8. Wakatani Akiyoshi (Osaka JPX), Merge device using FIFO buffers.
  9. Raymond, Douglas W.; McElfresh, B. Karen; Breniman, Eugene H., Method and apparatus for a minimal memory in-circuit digital tester.
  10. Wang, Laung-Terng; Hsu, Po-Ching; Wen, Xiaoqing, Multiple-capture DFT method for detecting or locating crossing clock-domain faults during self-test or scan-test.
  11. Wang, Laung-Terng; Hsu, Po-Ching; Kao, Shih-Chia; Lin, Meng-Chyi; Wang, Hsin-Po; Chao, Hao-Jan; Wen, Xiaoqing, Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during self-test or scan-test.
  12. Arndt Richard Louis ; Levine Frank Eliot ; Silha Edward John ; Welbon Edward Hugh, Performance monitoring in multiprocessor system with interrupt masking.
  13. Naffziger Samuel D., Qualified universal clock buffer circuit for generating high gain, low skew local clock signals.
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