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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0147854 (1980-05-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 1 |
A method and apparatus for photogoniometric analysis of surfaces is disclosed. A photogoniometric instrument includes a light source (12) for providing a collimated beam of light illuminating a test surface (18). A light detector (20) is mounted for rotation about the point of intersection of the il
A method of analyzing the specular reflectance characteristics of a test surface comprising the steps of: illuminating said test surface with a collimated beam of light incident on said surface at a known angle, measuring the reflectance characteristics of said test surface by measuring the intensit
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