$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Glass lead seal test apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01M-003/20
출원번호 US-0218235 (1980-12-19)
발명자 / 주소
  • White James W. (Huntsville AL) Ruwe Victor W. (Huntsville AL) Davis Donald R. (Huntsville AL)
출원인 / 주소
  • The United States of America as represented by the Secretary of the Army (Washington DC 06)
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 1

초록

Glass lead seal test apparatus in which a multiplicity of microcircuit packages with the leads sealed relative thereto by glass are checked for leakage between the glass seals and the microcircuit package structure and relative to the leads; this is accomplished by providing an apparatus for evacuat

대표청구항

Glass lead seal test apparatus comprising a base member, seal means mounted on the base member, a cover mounted to the base and being moveable into and out of sealing relationship with said seal means and defining a chamber with said seal means, a clamp down assembly removably mounted relative to sa

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. White James W. (Huntsville AL) Ruwe Victor W. (Huntsville AL), Microcircuit fine leak test apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Cradle assembly for a pressure decay leak tester.
  2. Goldfarb, Harold; Perkins, Kenneth L.; Weigand, Bernard L., Elevated transient temperature leak test for unstable microelectronic packages.
  3. Galera Córdoba, Georgina; Pérez Pastor, Augusto; Jordán Carnicero, Francisco Javier; Miguez Charines, Yolanda; Gordo Arias, Ángel Pablo; Álvarez Antoñón, Laura, Inspection methods and systems for detecting leaks in vacuum bag assemblies.
  4. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Leak tester for a carrier for printhead integrated circuitry.
  5. Bergquist Lyle E. (Littleton CO), Method of increasing the sensitivity of a leak detector in the probe mode.
  6. Poteat, Jere, Multiple port leak detection system.
  7. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pneumatic assembly for a pressure decay tester.
  8. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pressure tester for printhead integrated circuit carrier.
  9. Sleijpen, Stephen John; Tharion, Joseph; Waszczuk, Jan; O'Donnell, Eric Patrick; Granger, William; Bernardi, David; O'Farrell, Stephen Richard; Thelander, Jason Mark, Pressure-based tester for a platform assembly.
  10. Bergquist Lyle E. (Lakewood CO), Small component helium leak detector.
  11. Chen-Ching Fan TW, Test device for leakage-proof of a keyboard.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로