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Calibration apparatus for analog-to-digital converter 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-013/02
출원번호 US-0232481 (1981-02-09)
우선권정보 JP-0128181 (1980-09-16)
발명자 / 주소
  • Murooka Rikichi (Chiba JPX)
출원인 / 주소
  • Sony/Tektronix (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 31  인용 특허 : 0

초록 ▼

A calibration apparatus for analog-to-digital converter or transient recorder including both analog and digital sections is disclosed. A built-in calibrator automatically calibrates the gain and DC level of the entire system to substantially the same accuracy as that of the digital section, thereby

대표청구항 ▼

A calibration apparatus for an analog-to-digital converter, comprising: circuit means for controlling the DC level and the amplitude of an input signal applied thereto, the output signal from said circuit means being applied to said analog-to-digital converter; reference signal generator means for g

이 특허를 인용한 특허 (31)

  1. Matsuno, Keisuke; Katada, Hidetoshi; Tomizaki, Takeshi; Moriya, Hideaki, A/D conversion device and vibration damping apparatus for automobile using the A/D conversion device.
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  2. Morisson Richard,FRX ; Gandy Philippe,FRX ; Darthenay Frederic,FRX, A/D conversion device provided with a calibration arrangement.
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  3. Evans William P. (Glen Burnie MD) Lisle ; Jr. Thomas K. (Baltimore MD), A/D converter system with error correction and calibration apparatus and method.
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  4. Nakamura Kenji (Osaka JPX) Ideno Shigeru (Kyoto JPX), Analog to digital conversion method and apparatus.
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  5. Parfitt, Steven Perry, Analog to digital converter threshold detection circuit.
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  6. Kiikuniya Masumi (Kanagawa JPX) Maekawa Mamoru (Kanagawa JPX) Mori Shinichi (Yokohama JPX), Analog-to-digital conversion method and an analog-to-digital converter utilizing the same.
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  7. Nagahira Jyoji (Tokyo JPX) Suzuki Koji (Yokohama JPX) Kuroda Kouki (Tokyo JPX), Apparatus for correcting errors in a digital-to-analog converter.
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  8. Bristol, L. Rodney, Automatic vertical calibration method and system for an oscilloscope.
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  9. Duryee Peter S. (Lynnwood WA) Anholm ; Jr. John M. (Snohomish WA), Calibration apparatus for systems such as analog to digital converters.
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  10. Asano Masaharu (Fujisawa JPX) Kawamura Yoshihisa (Yokosuka JPX) Nakagawa Toyoaki (Yokosuka JPX), Device and method for measuring a temperature difference.
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  11. Asano Masaharu (Fujisawa JPX) Kawamura Yoshihisa (Yokosuka JPX) Nakamura Koyo (Yokosuka JPX), Device for measuring variable with automatic compensation for offset.
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  12. Wilczek Klaus,DEX ; Topp Volker,DEX, Device for pin adjusting in sensors.
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  13. Swerlein Ronald L. (Longmont CO) DesJardin Lawrence A. (Loveland CO) Stever Scott (Loveland CO), Device with automatic compensation of an ac attenuator.
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  14. Early Adrian B. (Buda TX) Harris Larry L. (Austin TX) Callahan ; Jr. Michael J. (Austin TX), Digitally calibrated delta-sigma analog-to-digital converter.
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  15. Spink ; Jr. Stanley T. (North Kingstown RI), Electronic gage amplifier and display.
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  16. Becker Klaus (Stuttgart DEX) Mller Albrecht (Stuttgart DEX), Facility for determining delay variations.
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  17. Orwell Cavan (Basingstoke GB2), Flow computer calibration technique.
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  18. Sooch Navdeep Singh ; Duffy Michael L., Integrated CODEC with a self-calibrating ADC and DAC.
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  19. Hyatt James R. (Madison WI), Method and apparatus for automatically calibrating the gain and offset of a time-shifted digitizing channel.
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  20. Nagaraj, Krishnasawamy, On-line cancellation of sampling mismatch in interleaved sample-and-hold circuits.
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  21. Kingsley, Stuart A.; Sriram, Sriram S.; Kleefstra, Meindert, Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage.
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  22. Stuart A. Kingsley ; Sriram S. Sriram ; Meindert Kleefstra, Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage.
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  23. Peschke, Martin; Schild, Alexander, Oscilloscope probe.
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  24. Kumar Shalabh (Kildeer IL) Chow Vince (Highland Park IL), Programmable controller linear transducer input modules.
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  25. Sturrock Peter E. (Doraville GA) O\Brien Gerald E. (Atlanta GA), Rapid-sweep electrochemical detector for chemical analysis of flow streams.
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  26. Galligan James J. (Joliet IL) Quinlan Harry W. (Frankfort IL) Hedden Steven J. (Morris IL), Reactor control system verification.
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  27. Armstrong Michael (San Jose CA) Gray Paul R. (Orinda CA), Self-calibrating analog to digital converter.
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  28. Sekel, Stephen Mark, Self-calibrating electrical test probe.
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  29. Sekel,Stephen Mark, Self-calibrating electrical test probe calibratable while connected to an electrical component under test.
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  30. Koslar Manfred (Berlin DEX), Signal processing device with a level adapter circuit.
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  31. Verbanets William R. (Plum Borough PA) Elms Robert T. (Monroeville PA), Wide dynamic range current measuring apparatus.
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