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Temperature pattern measuring device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/18
출원번호 US-0238357 (1981-02-25)
발명자 / 주소
  • Tatsuwaki Masao (Osaka JPX) Nemoto Shin (Osaka JPX) Katayama Yutaka (Wakayama JPX) Okada Michio (Wakayama JPX) Hotta Kazuyuki (Wakayama JPX)
출원인 / 주소
  • Sumitomo Kinzoku Kogyo Kabushiki Gaisha (Osaka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 23  인용 특허 : 7

초록

A temperature pattern measuring device for obtaining the surface temperature distribution of an object. The device receives an image of the measured object and two different wavelength components of light emitted from the object. The device performs a two color temperature process for each minute ar

대표청구항

A temperature pattern measuring device for obtaining the surface temperature distribution of an object to be measured, comprising: a two-dimensional image pickup means; first and second optical filters provided along a light path extending from said object to said image pickup means, said filters ar

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Abel Otto (Clausthal-Zellerfeld DEX) Giertz Hans-Josef (Ratingen DEX) Hoppe Joachim (Mlheim ; Saan DEX) Eisenhut Werner (Essen DEX) Sarangi Bhubaneswar (Recklinghausen DEX) Serwatzky Gnter (Bonn-Bad , Determination of temperature distributions on awkwardly located or low-access surfaces.
  2. Auer Siegfried O. (Bowie MD), Method and apparatus for thermal imaging.
  3. Yokoshima Naohiko (Hirakata JPX) Isoya Toshisuke (Hirakata JPX) Mishiro Masayuki (Hirakata JPX), Method of detecting weld lines.
  4. Gebhart John R. (Enfield CT) Kinchen Bruce E. (Colchester CT) Strange Richard R. (Jupiter FL), Optical pyrometer and technique for temperature measurement.
  5. Denis Jean F. (Lesigny FRX) Dzalba-Lyndis Serge I. (Guyancourt FRX) Kuchelbecker Robert L. (Chatillon sous Bagneux FRX) Petit Jean A. V. (Saint Cloud FRX), Process and apparatus for monitoring the quality of weld spots produced by resistance spot welding.
  6. Kahn David A. (Southampton GB2), Pyrometer system using separated spectral components from a heat source.
  7. MaCall ; Thomas F. ; Parlanti ; Conrad A., Temperature profile measuring devices.

이 특허를 인용한 특허 (23)

  1. Xie, Zhi; Hu, Zhenwei; Ci, Ying; Zhang, Da, Apparatus and method for measuring the surface temperature of continuous casting billet/slab.
  2. Stoller Milton (West Hartford CT), Diaphanoscopy apparatus.
  3. Stoller Milton (West Hartford CT), Diaphanoscopy method.
  4. Schenck Arthur J. (Glenmoore PA) Hoffman John P. (Coopersburg PA) Crossley Glenn R. (Emmaus PA), Furnace burden thermographic method and apparatus.
  5. Seitz, Peter, Imaging pyrometer.
  6. Newman, Richard W.; Krauter, Allan I., Infrared thermometer.
  7. Dils Ray R. (Vancouver WA) Winslow Alan K. (Vancouver WA), Method and apparatus for determining temperature in a blackbody radiation sensing system.
  8. Stoddart Hugh F. (Groton MA) Lewis Gary D. (St. Clair Shores MI), Method and apparatus for interpreting optical response data.
  9. Stoddart Hugh F. (Groton MA) Lewis Gary D. (St. Clair Shores MI), Method and apparatus for spectral transmissibility examination and analysis.
  10. Talbott Marvin T., Method and system for digital data storage, abstraction and compression to preserve the most useful characteristics of the data.
  11. Shirk Bryan W., Method for infrared inspection of resistence welds during assembling of an inflator.
  12. Adams Mark J. (Kennesaw GA) Crisman ; Jr. Elton M. (Blairsville GA), Method of and apparatus for detecting corrosion utilizing infrared analysis.
  13. Murakami Daisuke,JPX ; Moriguchi Hideki,JPX ; Ikegaya Akihiko,JPX, Noncontact temperature distribution measuring apparatus.
  14. Elleman Daniel D. (San Marino CA) Allen James L. (La Crescenta CA) Lee Mark C. (Rockville MD), Noncontact temperature pattern measuring device.
  15. Murphy John C. (Columbia MD) Aamodt Leonard C. (Silver Spring MD), Optical beam deflection thermal imaging.
  16. Berman Herbert L. (Los Altos Hills CA), Radiometric measurement of wafer temperatures during deposition.
  17. Felice Ralph A., Temperature determining device and process.
  18. Mullin, Matthew D.; Anson, Michael J.; Quinn, David E.; Lane, John A., Temperature measurement system.
  19. Mullin, Matthew D.; Lane, John A.; Quinn, David E.; Anson, Michael J., Temperature measurement system.
  20. Mullin, Matthew D.; Lane, John A.; Quinn, David E.; Anson, Michael J., Temperature measurement system.
  21. Needham Martin J. (Charlwood GB2), Thermal imaging apparatus.
  22. Stoller Milton (West Hartford CT), Transillumination apparatus.
  23. Stoller Milton (West Hartford CT), Transillumination method.
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