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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0157791 (1980-06-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 3 |
Apparatus and methods for measuring retroreflective properties of a surface are disclosed. The apparatus and methods are characterized in that the measured angle of divergence is varied while the angle of incidence is simultaneously varied.
Apparatus for measuring retroreflective properties of a surface, the apparatus comprising: (a) a light source for providing a beam of light; (b) support means for supporting a surface being evaluated for its retroreflective properties, positioned to enable the beam of light to strike the surface bei
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