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특허 상세정보

Method and apparatus for testing the correspondence of line of sight with target line

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01B-011/26    G01C-001/00   
미국특허분류(USC) 356/152 ; 356/150 ; 356/151
출원번호 US-0316953 (1981-10-30)
우선권정보 DE-3044554 (1981-11-25)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 2
초록

Method and apparatus for testing the correspondence of the line of sight of optical instruments with the target line of weapons. A predetermined measuring field and a photoelectric line-type sensor are used. The nominal positions of the lines of sight and of the target lines relative to each other are stored as coordinates in a long-time memory. Simultaneously a nominal reference point as the origin of the coordinate system stored in the long-time memory is determined. The method and apparatus are carried out in the following sequence: (a) one light-dot ...

대표
청구항

An apparatus for testing the correspondence of at least one line of sight of an optical instrument with at least one target line of a weapon, comprising: (a) an imaging system (23) said imaging system having a beam path and an image plane (24), a given area of said image plane defining a measuring field (25); (b) a photoelectric, line-type sensor (26) mounted in said image plane (24) of said imaging system (23); (c) optical means (1) projecting light dots (I, II, III) corresponding to said line of sight and said target line into said measuring field (25)...