[특허]Method and apparatus for comparing data signals in a container inspection device

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Method and apparatus for comparing data signals in a container inspection device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H04N-007/18
출원번호	US-0323793 (1981-11-23)
발명자 / 주소	Miller John W. V. (Toledo OH) Juvinall John W. (Ottawa Lake MI)
출원인 / 주소	Owens-Illinois, Inc. (Toledo OH 02)
인용정보	피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 6

초록 ▼

The present invention relates to an apparatus and method for generating a comparison signal representing the deviation between two analog video signals representing light received from particular inspection points on an object being inspected. The comparison signal is generated with a magnitude representing the ratio between the values of the two video signals. The ratio is calculated with the one of the two video signals having the larger magnitude as the denominator. In order to calculate the ratio, the present invention first converts the two analog video signals to digital form and then determines the log of each of digitized video signal. Next, the negative difference between the two log signals is determined. The negative difference is then exponentiated to determine the ratio.

대표청구항 ▼

A method of generating a comparison signal representing a magnitude difference between two analog video signals generated by an apparatus for detecting defects in an object including a camera for generating a series of analog video signals each having a magnitude proportional to an amount of light received from a particular point of inspection on the object, comprising the steps of: (a) converting the two analog video signals to digital form; (b) determining a ratio between the values of the two digitized video signals so that the ratio has a value less than or equal to one by (b1) determining the log of the value of each of the two digitized video signals, (b2) determining the negative difference value between the two log values, and (b3) exponentiating the negative difference value to determine the ratio; and (c) generating the comparison signal having a magnitude equal to said ratio.

이 특허에 인용된 특허 (6)

Malueg Richard M. (Glendora CA), Detector array fixed-pattern noise compensation.
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Southgate Peter D. (Princeton NJ), Inspection system for detecting defects in regular patterns.
상세보기
Gomm Thiel (Castle Rock CO) Price Stephen E. (Lakewood CO), Method and apparatus for detecting foreign particles in full beverage containers.
상세보기
Van Beeck Walter P. (Sinaai BEX) Dictus Alfons J. (Ekeren BEX) Geens Maurits (Haacht BEX) Simons Roger J. (Antwerp BEX) Burtin Jean (Mol BEX), Method and device for inspecting a moving sheet material for streaklike defects.
상세보기
Faulhaber Mark E. (Wilmington DE) Smith ; Jr. Edmund H. (Wilmington DE), Optical-electrical web inspection system.
상세보기
Tsunekawa Tokuichi (Yokohama JPX) Masunaga Makoto (Tokyo JPX) Hosoe Kazuya (Machida JPX) Niwa Yukichi (Yokohama JPX) Owada Mitsutoshi (Yokohama JPX) Asano Noriyuki (Kawasaki JPX), Photo-sensor device and image scanning system employing the same.
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이 특허를 인용한 특허 (4)

Gershtein, Vladimir Yily; Toth, Andrew James; Butler, Christopher R., Devices and methods for performing inspections, repairs, and/or other operations within vessels.
상세보기
Shimizu Shigehisa (Kanagawa JPX) Otokozawa Takao (Kanagawa JPX), Method and apparatus for inspecting web surface.
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Kato Syuzo (Narashino JPX) Takahashi Tutomu (Sakura JPX) Ishimura Hiroshi (Narashino JPX) Hiramoto Sotozi (Chiba JPX), Method and apparatus for testing a joint.
상세보기
Gershtein, Vladimir Yliy; Toth, Andrew James; Butler, Christopher R., System for performing inspections, repairs, and/or other operations within vessels.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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