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Method and apparatus for detecting focus condition of objective lens 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G03B-003/00
출원번호 US-0426898 (1982-09-29)
우선권정보 JP-0159218 (1981-10-06)
발명자 / 주소
  • Oinoue Kenichi (Tokyo JPX) Hayashi Asao (Hachioji JPX) Ida Masatoshi (Hachioji JPX) Aoki Masahiro (Fussa JPX) Nakamura Junichi (Hachioji JPX) Fukuoka Kenji (Fussa JPX)
출원인 / 주소
  • Olympus Optical Co. Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 2

초록

A focus condition of an objective lens is detected on the basis of a lateral shift of two images formed by first and second light fluxes which are transmitted through right- and left-hand halves of the lens, respectively. In order to separate the first and second light fluxes, there is arranged an a

대표청구항

In a method of detecting a focusing condition of an objective lens for forming an image of an object on a predetermined focal plane by selectively introducing first and second light fluxes each emanating from at least a part of respective one of first and second halves of objective lens divided alon

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Araki Kunihiko (Tokyo JPX), Automatic focusing position detection apparatus.
  2. Stauffer Norman L. (Englewood CO), Range determination system.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Suzuki Takashi (Yokohama JPX) Matsumura Susumu (Kawasaki JPX) Suzuki Kenji (Kawasaki JPX) Otaka Keiji (Yokohama JPX), Focus detector having first and second non-overlapping sensor series.
  2. Hrenz Peter G. (Hartsdale NY), Microscope with correlatable fixation target.
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