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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0282552 (1981-07-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 73 인용 특허 : 2 |
A measuring arrangement is disclosed for measuring the contour of a two or three dimensional surface in which a redundant configuration of distance measuring systems is positioned above the surface being measured. Each distance measuring system monitors distance measurements to a point proximate the
A system for measuring the contour of a three dimensional surface, comprising an arrangement of at least four distance measuring systems positioned in a polyhedral configuration above a surface to be measured, with each measuring system providing distance measurements to a measuring point proximate
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