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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0371744 (1982-04-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 3 |
The invention is directed to a method for increasing the precision of positive-ion relative abundance measurements conducted in a sector mass spectrometer having an ion source for directing a beam of positive ions onto a collimating slit. The method comprises incorporating in the source an electrost
In th art of making sector mass spectromter analyses wherein positive ions are focused into a beam which is directed through a collimating rectangular slit and then through a sector magnetic field, the improvement comprising: focusing said ions into a beam of circular cross section for collimation b
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