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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0380731 (1982-05-07) |
우선권정보 | DE-3033990 (1980-09-10); DE-8024132 (1980-09-10) |
국제출원번호 | PCT/DE81/00137 (1981-09-05) |
§371/§102 date | 982May71 (982May71) |
국제공개번호 | WO-8200893 (1982-03-18) |
발명자 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 17 인용 특허 : 3 |
A method for localizing and analyzing sound emissions, wherein the position of the sound emission source is determined by incoming sound pulses at various measuring locations. The arrival time of a pulse or of a pulse characteristic is measured in three or more adjacent portions of each measuring lo
Method for localizing and analyzing sound emissions in the testing of an article of apparatus or structural components for points of damage, wherein the location of the sound emission source is determined from the imcoming sound pulse at a plurality of individual measuring receivers in spaced arrang
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