최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0318100 (1981-11-04) |
우선권정보 | JP-0157442 (1980-11-07) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 3 |
In a relay tester, analog signals to be supplied to a relay under test are processed with digital circuits so that the concerned frequency, phase, voltage and current are set and adjusted with high frequency.
A relay tester, in which test signals are applied to a relay and wherein various characteristics of said test signals are varied over time, comprising: a digital frequency varying unit for generating a digital output signal having a desired frequency determined in accordance with a first digital con
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.