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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0288251 (1981-07-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 0 |
A test probe for the testing of electrical circuits and circuit boards comprises a probe head (52) breakably coupled to an elongated probe arm (51). The breakable coupling is achieved by securing a first ring (63) to the probe arm and a second ring (60) to the probe head. The first and second rings
A test probe for testing electrical circuits mounted on a circuit board comprising: an elongated arm extending substantially along a longitudinal direction; and a probe head having at one end thereof at least one probe pin and having the other end breakably coupled to one end of the elongated arm su
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