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Break-away test probe 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-001/06
출원번호 US-0288251 (1981-07-30)
발명자 / 주소
  • Alexandersen John B. (East Windsor Township
  • Mercer County NJ) Karolik Ivan J. (Plainsboro NJ)
출원인 / 주소
  • AT&T Technologies, Inc. (New York NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 0

초록

A test probe for the testing of electrical circuits and circuit boards comprises a probe head (52) breakably coupled to an elongated probe arm (51). The breakable coupling is achieved by securing a first ring (63) to the probe arm and a second ring (60) to the probe head. The first and second rings

대표청구항

A test probe for testing electrical circuits mounted on a circuit board comprising: an elongated arm extending substantially along a longitudinal direction; and a probe head having at one end thereof at least one probe pin and having the other end breakably coupled to one end of the elongated arm su

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Boyette ; Jr. James E. (Delray Beach FL), Breakaway test probe actuator used in a probing apparatus.
  2. Gutfeldt, Theodore A.; Chow, Norman; Patel, Sarosh M.; Caradonna, Michael, High fidelity electrical probe.
  3. Kumpitsch Robert C. (Johnstown NY) Retersdorf James P. (Gloversvill NY) Lewis Charles W. (Schenectady NY), Immediately testable superconductor joint.
  4. Maxwell,William Wayne, Method and apparatus for magnetically achieving electrical continuity.
  5. Vander Horst, John, Recreational vehicle holding tank sensor probe.
  6. Maekawa, Shigeki; Takemoto, Megumi; Miki, Kazunobu; Kano, Mutsumi; Nagata, Takahiro; Kashiba, Yoshihiro, Test probe for semiconductor devices, method of manufacturing of the same, and member for removing foreign matter.
  7. Maekawa, Shigeki; Takemoto, Megumi; Miki, Kazunobu; Kano, Mutsumi; Nagata, Takahiro; Kashiba, Yoshihiro, Test probe for semiconductor devices, method of manufacturing of the same, and member for removing foreign matter.
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