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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0470522 (1983-02-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 0 |
A biasing method to obtain improved performance of Field Effect Devices is disclosed. In accordance with the method, the nominal operating point for a Field Effect Device is chosen so that the electric field in the drain depletion region is biased in the carrier partial velocity saturation regime. W
A method of minimizing transistor by noise, the field effect transistor having a gate, source and drain comprising setting the quiescent bias point of the field effect transistor by setting the gate to source voltage and the drain to source voltage to operate the transistor in the current saturation
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