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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0391380 (1982-06-23) |
우선권정보 | FR-0012539 (1981-06-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 1 |
A process for the remote measurement of the emissivity e1) with relatively smooth surface, consisting: in making, with a detector (6) and a converter (9), a first measurement A of the luminance at a point M on the surface at an emission angle q2) on which the measurement is made being polarized (at
A process for the remote measurement of the emissivity of a body with relatively smooth surface, by successive measurements of the luminance at the same point on the surface of the body, made respectively on thermal radiations polarized in different directions, characterized in that it comprises the
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