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Automatic stripe width reader 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/02
출원번호 US-0072429 (1979-09-04)
우선권정보 GB-0000923 (1979-01-10)
발명자 / 주소
  • Southgate Peter D. (Princeton NJ) Fairbanks David W. (Monmouth Junction NJ) Davis Richard B. (Trenton NJ) Beltz John P. (Willingboro NJ)
출원인 / 주소
  • RCA Corporation (New York NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 3

초록

A system is provided for determining the widths and spacings of substantially parallel opaque stripes on a substrate, wherein the stripes are separated by openings. The system comprises a light source for illuminating the substrate and photodetecting means positioned to receive light from the illumi

대표청구항

A system for determining the spacings between opaque stripes forming a light absorbing matrix on a color picture tube faceplate wherein the matrix has been formed by photoexposing the areas between the stripes in three separate exposures, said system comprising, means for illuminating said faceplate

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Kato Motohiko (Higashikurume JPX) Osawa Noriaki (Tachikawa JPX), Automatic focus adjusting device.
  2. Nakagawa Kiyoshi (Tokyo JP) Toorisawa Soichi (Hinodemachi JP) Ibe Hiroyuki (Kodaira JP) Nakashima Shigeaki (Kodaira JP) Hara Yasuhiko (Yokohama JP), Method and apparatus for automatically inspecting and correcting masks.
  3. Billet Gilles (Virieu le Grand FRX) Blottiau Jean (Velizy FRX), Process and apparatus for the automatic inspection of patterns.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Shirasaka Akifumi,JPX, Image processing apparatus with shape-correction of a contour-specified figure.
  2. Roberts ; Jr. Owen Hugh ; Ritt Peter Michael ; Southgate Peter David ; Duschl Robert Anthony, Method and apparatus for manufacturing a color CRT.
  3. Krufka Frank S. (Mount Joy PA), Multiple array panel matrix measurement system.
  4. Krufka Frank S. (Mount Joy PA), Photodetector array interface circuit.
  5. Krufka Frank S. (Mount Joy PA), RAM interface control circuit.
  6. Martel, Thomas Joseph, System and method for automatically inspecting an array of periodic elements.
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