$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Engine temperature transient compensating circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01M-015/00
출원번호 US-0357587 (1982-03-12)
발명자 / 주소
  • Moore M. Samuel (Northridge CA)
출원인 / 주소
  • Semco Instruments, Inc. (North Hollywood CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 3

초록

A turbine engine may occasionally be required to operate momentarily at an overtemperature condition which, provided it does not exceed a predetermined maximum temperature and time duration, is known to be harmless. A temperature read-out device attached to an engine operating under such conditions

대표청구항

An engine transient compensating circuit comprising: means for sensing the temperature of an engine which may have a harmless overtemperature transient for a predetermined period of time, and for providing a signal representing said temperature; means for generating an opposing compensating signal m

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Codomo Joseph (Bellevue WA) Thorson Eric K. (Snohomish WA), Method and apparatus for sensing, storing, and graphically displaying over-temperature conditions of jet engines.
  2. Moore Manuel S. (Los Angeles CA) Paluka Charles F. (Los Angeles CA), Overtemperature monitor and integrator apparatus.
  3. Hancock Geoffrey (Simi Valley CA), Reliable over-temperature control circuit.

이 특허를 인용한 특허 (24)

  1. Badeer, Gilbert H., Engine thrust bearing condition monitoring method.
  2. Gilbert H. Badeer, Engine thrust bearing condition monitoring system and method.
  3. Read, Michael J.; Park, Talus, Engine transient detection and control strategy.
  4. Ding Kurt (Augsburg DEX) Brandt Helmut (Munich DEX) Wenzl Josef (Herbertshausen DEX), Method and apparatus for measuring pressures in a rotor of a turbomachine.
  5. Panov, Vili, Method of determining a combustor exit temperature and method of controlling a gas turbine.
  6. Rains, Mark A.; Harper, Sean P., Methods and apparatus for reducing temperature overshoot.
  7. Walker, Darryl G., Multi-chip non-volatile semiconductor memory package including heater and sensor elements.
  8. Walker, Darryl G., Multi-chip non-volatile semiconductor memory package including heater and sensor elements.
  9. Walker, Darryl G., Multi-chip non-volatile semiconductor memory package including heater and sensor elements.
  10. Walker, Darryl G., Multi-chip non-volatile semiconductor memory package including heater and sensor elements.
  11. Walker, Darryl G., Power up of semiconductor device having a temperature circuit and method therefor.
  12. Walker, Darryl G., Semiconductor device having a temperature circuit that provides a plurality of temperature operating ranges.
  13. Walker, Darryl G., Semiconductor device having subthreshold operating circuits including a back body bias potential based on temperature range.
  14. Walker, Darryl G., Semiconductor device having temperature sensor circuit that detects a temperature range upper limit value and a temperature range lower limit value.
  15. Walker, Darryl G., Semiconductor device having temperature sensor circuits.
  16. Walker, Darryl G., Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature.
  17. Walker, Darryl, Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature and test method.
  18. Walker, Darryl, Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature and test method.
  19. Walker, Darryl G., Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature and test method.
  20. Walker, Darryl G., Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature and test method.
  21. Walker, Darryl G., Semiconductor device having variable parameter selection based on temperature and test method.
  22. Walker, Darryl G., Testing and setting performance parameters in a semiconductor device and method therefor.
  23. Walker, Darryl G., Testing and setting performance parameters in a semiconductor device and method therefor.
  24. Walker, Darryl G., Testing and setting performance parameters in a semiconductor device and method therefor.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로