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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0539761 (1983-10-05) |
우선권정보 | EP-0109514 (1982-10-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 21 인용 특허 : 1 |
A test sample (7) of the same material, or with the same structure as the workpiece (5) exposed to subtractive processing is simultaneously exposed to such processing and consists of a wedge (10) with the angle a11) which are complementary to its two surfaces (14). By measuring the distance x1 betwe
The method of measuring the removed layer thickness is subtractive workpiece processing, said method comprising the steps of: processing the workpiece simultaneously with a test sample consisting of the same material as the workpiece, the test sample consisting of a wedge and two covering pieces com
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