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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0636793 (1984-08-01) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 2 |
A method of making measurements on a machine having a movable probe for measuring a part in which a present location of the probe is maintained and a past location (e.g., a part measurement) of the probe is also maintained (stored) and advantageously displayed. The measuring apparatus includes two s
1. A method of measuring an object with a machine having a probe, said method comprising the steps of moving the probe and object relative to each other, said step of moving the probe and object relative to each other including the step of moving the probe and object into engagement and continuin
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