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Temperature measuring apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/30
출원번호 US-0589745 (1984-03-15)
발명자 / 주소
  • Anderson, Alan S.
출원인 / 주소
  • Williamson Corporation
대리인 / 주소
    Pahl, Jr., Henry D.
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 6

초록

In the temperature measuring apparatus disposed herein, a first intermediate output signal is obtained which is a function of the ratio of the brightness of a target at two different wavelengths and a second intermediate output signal is generated which is a function of the brightness of the target

대표청구항

1. Temperature measuring apparatus for measuring the temperature of a target comprising: a detector for radiant energy; optical means for directing radiant energy from the target onto said detector; means located between the target and said detector for alternately interposing first and second

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Anderson Alan S. (Littleton MA), Null balance radiometric apparatus.
  2. Ida Edward S. (Newark DE), Photometric analyzer.
  3. Anderson Alan S. (Littleton MA) Cardarelli John J. (Malden MA), Portable precision radiometer.
  4. Levy Marilyn (Little Silver NJ) Ball Vincent W. (Interlaken NJ), Reconnaissance/surveillance system utilizing color signature of target.
  5. Needham Martin J. (Charlwood GB2), Thermal imaging apparatus.
  6. Hanaoka Tadashi (Tanashi JPX), Thermistor frequency controlled electronic thermometer.

이 특허를 인용한 특허 (14)

  1. Ish-Shalom Yaron,ILX ; Baharav Yael, Active pyrometry with emissivity extrapolation and compensation.
  2. Myhre Douglas C. ; Scholz Joachim H. ; Severtson Mark G. ; Lenertz Steven M. ; Simones Christopher J. ; Lenagh Thomas F., Apparatus for detecting flame conditions in combustion systems.
  3. O'Neill James Anthony ; Singh Jyothi, Combined emissivity and radiance measurement for the determination of the temperature of a radiant object.
  4. Chande Tushar S. (Schenectady NY) Ortiz ; Jr. Angel L. (Ballston Lake NY), Cooling rate determination apparatus for laser material processing.
  5. Brouwer Nicholaas L. (Allegheny Township ; Allegheny County PA) Urbanic John M. (Churchill Borough PA) Anderson Albert R. (White Valley PA), Emissivity error correcting method for radiation thermometer.
  6. Peluso, Marcos; Eliason, Scott; Brown, Gregory C., Fouling and corrosion detector for burner tips in fired equipment.
  7. Peterson Jack E. (Chino CA), Lamp analyzer.
  8. Krishnan Shankar (Arlington Heights IL) Hansen George P. (Austin TX) Hauge Robert H. (Houston TX) Margrave John L. (Houston TX) Rey Charles A. (Riverwoods IL), Method and apparatus to simultaneously measure emissivities and thermodynamic temperatures of remote objects.
  9. Arima Jiro (Osaka JPX) Tsujimura Hiroji (Osaka JPX) Narita Tomonori (Tokyo JPX) Takebuchi Hiroki (Kawasaki JPX), Method for measuring surface temperature of semiconductor wafer substrate, and heat-treating apparatus.
  10. Cabib Dario,ILX ; Buckwald Robert A.,ILX ; Adel Michael E.,ILX, Multipoint temperature monitoring apparatus for semiconductor wafers during processing.
  11. Kyriakis John (36 Minster Court Hillcrest Road Ealing ; London GB2), Non-contact temperature measurement of a static or moving target.
  12. Tanaka Fumio (Fukuoka IN JPX) DeWitt David P. (West Lafayette IN), Radiation thermometry.
  13. Full,Gary, System and method for remote emissions sensing including calculation and calibration techniques compensating for temperature and pressure effects.
  14. Ashley Timothy,GBX ; Elliott Charles T.,GBX ; Gordon Neil T.,GBX ; Hall Ralph S.,GBX, Thermal imaging system.
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