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Dual sensor radiation pyrometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/32
  • G01N-025/20
출원번호 US-0465951 (1983-02-14)
발명자 / 주소
  • Rudolph Ralph G. (Pittsburgh PA)
출원인 / 주소
  • United States Steel Corporation (Pittsburgh PA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 4

초록

A pyrometer for determining the temperature of a surface in the presence of reflected radiation has two infrared radiation sensors, each responsive to different wave length, positioned to receive radiation from the surface. An adjustment factor is developed from sensor response signals when reflecte

대표청구항

A pyrometer for measuring a surface temperature of a heated object in the presence of surface emitted radiation and surface reflected radiation originating from a source which is at a different temperature from said surface, and comprising: a first radiation sensor means positioned for receiving and

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Knop Karl (Zurich CHX), Apparatus and method for measuring the ratio of two signals.
  2. Dostoomian Ashod S. (Stoughton MA) Lord Joseph S. (Walpole MA), Band-ratio radiometer.
  3. Iuchi Tohru (Kawasaki JPX), Method and an apparatus for simultaneous measurement of both temperature and emissivity of a heated material.
  4. Schiefer Peter (Mulheim DT) Bosebeck Heinz (Mettmann DT), Two-input pyrometer.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Crowley John L. (Fremont CA) Kermani Ahmad (Fremont CA) Lassig Stephan E. (Milpitas CA) Johnson Noel H. (San Jose CA) Rickords Gary R. (Fremont CA), Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal.
  2. Crowley John L. (Fremont CA) Kermani Ahmad (Sunnyvale CA) Lassig Stephan E. (Milpitas CA) Johnson Noel H. (San Jose CA) Rickords Gary R. (Fremont CA), Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal.
  3. Rudolph Ralph G. (Center Valley PA), Apparatus and method for measuring temperature and/or emissivity of steel strip during a coating process.
  4. Chande Tushar S. (Schenectady NY) Ortiz ; Jr. Angel L. (Ballston Lake NY), Cooling rate determination apparatus for laser material processing.
  5. Califorrniaa, Eurica, Incubator for babies before implantation.
  6. Pompei Francesco, Infrared thermocouple improvements.
  7. Hunter, Aaron M.; Li, Jiping; Ramanujam, Rajesh S.; Haw, Thomas, Method and apparatus for extended temperature pyrometry.
  8. Gaertner, Reno; Ludwig, Steffen; Kuepper, Rainer; Moellmann, Klaus-Peter, Method and system for measuring thermal radiation to determine temperature and emissivity of an object.
  9. Kienitz Ulrich (Dresden DDX) Schiewe Christian (Dresden DDX), Method for the contactless measuring of temperature with a multi-channel pyrometer.
  10. Twerdochlib, Michael, Method of measuring in situ differential emissivity and temperature.
  11. Twerdochlib, Michael, Method of measuring in situ differential emissivity and temperature.
  12. Califorrniaa, Eurica, Method of thermoregulation within an incubator for babies before implantation.
  13. Antel, Jr., William Joseph; Nirmalan, Nirm Velumylum; Allen, Jason Randolph; Williams, Jeffrey Lawrence, Multiwavelength pyrometry systems.
  14. Li, Hejie; Brown, Rodrick Gordon; Dasgupta, Samhita; Furlong, Edward Randall; Nirmalan, Nirm Velumylum; Wang, Anquan; Wang, Guanghua; Walls, Stephen Thomas, Multiwavelength thermometer.
  15. Schietinger Charles W. ; Adams Bruce E., Non-contact optical techniques for measuring surface conditions.
  16. Huston, John T.; Berthold, John W.; Moskal, Thomas E., Pyrometer for measuring the temperature of a gas component within a furnace.
  17. Tanaka Fumio (Fukuoka IN JPX) DeWitt David P. (West Lafayette IN), Radiation thermometry.
  18. Donovan, David H., Temperature determination based on emissivity.
  19. Mustapha Arroubi FR, Temperature sensor and electrical household appliance comprising same.
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