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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0330384 (1981-12-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 42 인용 특허 : 0 |
The specification discloses an electronic dynamic balance leak testing system utilizing a “live zero”, wherein a source of test medium at a predetermined desired pressure or vacuum is connected to a part to be tested, and after the part is filled with the test medium, and an interval is provided for
A method of leak testing a part using a selected test medium from a selected source comprising the steps of: (a) subjecting the part to a predetermined test medium pressure; (b) isolating the part from the source of selected test medium while continuing to subject the part to pressure; (c) sensing a
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