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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0593993 (1984-03-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 59 인용 특허 : 3 |
Electrical signals are measured (analyzed and displayed) with subpicosecond resolution by electro-optic sampling of the signal in an electro-optic crystal, the index of which changes in response to the electric field produced by the signal, in accordance with the Pockels effect. The crystal is dispo
The method of measuring an electrical signal on a line in a micro-circuit with subpicosecond resolution which comprises the steps of propagating said signal along a line on a substrate of said micro-circuit which creates an electric fringe field adjacent thereto, placing an electro-optic crystal of
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