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특허 상세정보

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Event scanning

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01N-021/86   
미국특허분류(USC) 250/560 ; 356/376
출원번호 US-0507925 (1983-06-27)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 13
초록
▼

A scanning laser beam is directed in a circular scanning pattern, perpendicular to the surface of a part that moves across the scan pattern. Reflected light received solely from part edges or other surface discontinuities is compared with a number of preselected threshold levels. When reflection intensity attains any one of the selected threshold levels, an event is triggered, and the beam position at the time of the event, together with the intensity level triggering the event, are recorded, so as to provide information limited to the part edges and oth...

대표
청구항

The method of claim 1 including the step of establishing said predetermined magnitudes at a value between the magnitudes of energy reflected from said object and from the background of the object.

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Lavanchy Jean-Pierre (Apples CHX) Heizmann Frieder (Monnaz CHX). Apparatus and method to test workpieces for size, relative position, material integrity, and the like. USP1980084217053.
  2. Ito Isao (Nagoya JPX). Apparatus for measuring contour configuration of articles. USP1981114298285.
  3. Ito Isao (Nagoya JPX) Tunashima Seiichi (Kasugai JPX). Apparatus for measuring contour configuration of articles. USP1981104297034.
  4. Milana Emilio (Rivalta ITX). Apparatus for testing surface roughness. USP1981094290698.
  5. Altman Norman G. (Stamford CT) Worden J. Rodney (New York NY). Electro-optical measuring system using precision light translator. USP1979094168126.
  6. Lund Roger E. (Los Angeles CA) Wirick Michael P. (Los Angeles CA). High speed laser pulse analyzer. USP1982034320462.
  7. Horikawa Kazuo (Minami-ashigara JPX). Method and apparatus for detecting the leading edge of a sheet to be scanned. USP1985074532429.
  8. Provder Theodore (Olmsted Falls OH) Holsworth Richard M. (Westlake OH) Koehler Mark E. (Middleburg Heights OH). Method and apparatus for photogoniometric analysis of surfaces. USP1982084344709.
  9. Eaton ; Homer L.. Method and apparatus for profile scanning. USP1978104122525.
  10. Whitehouse David J. (Melton Mowbray GB2) Sharma Harish C. (Leicester GB2). Method of determining the coordinates of the center of curvature of the curved surface of a workpiece. USP1982074342091.
  11. Dashwood Nigel J. R. (Royston GB2) Plummer Dexter R. (Ongar GB2). Optical scanner. USP1980064208589.
  12. Clerget Michel (La Celle-St-Cloud FRX) Germain Francois (Pontchartrain FRX) Kryze Jiri (Pontchartrain FRX). Process and apparatus for optically exploring the surface of a body. USP1979034146926.
  13. Cornu Jean (Nantes FRX) Detriche Jean-Marie (Chambourcy FRX) Tiret Bernard (Verdun FRX) Jorge Gerard (Lunel FRX) Galera Richard (Meylan FRX) Biava Dominique (Clamart FRX) Marchal Paul (Gif-sur-Yvette. System for detecting and locating surface discontinuity by a light beam. USP1983114413910.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 2

  1. Zhu, Xiaoxun; Au, Ka Man; Germaine, Gennady; Kolis, George; Good, Timothy A.; Schnee, Michael D.; Blake, Robert E.; Knowles, Carl Harry; Ghosh, Sankar; Naylor, Charles A.; Wilz, Sr., David M.; Tsikos, Constantine J.; Lodge, Francis E.; Colavito, Stephen J.; Rockstein, George B.. Automated package dimensioning system. USP2009057527205.
  2. Eaton Homer L. (111 “C”Sequoia Ave. Carlsbad CA 92008). Method and apparatus for measuring and inspecting articles of manufacture for configuration. USP1990114972090.

IPC 상위 출원인