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Radiation scanning and detection system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/26
  • G01C-001/00
출원번호 US-0511811 (1983-07-08)
발명자 / 주소
  • Cameron Scott H. (Severna Park MD)
출원인 / 주소
  • The United States of America as represented by the Secretary of the Army (Washington DC 06)
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 5

초록

A source of radiation is detected by an optical scanning system including a rotating mirror and an array of V-shaped detector elements. The detectors are arranged in vertically stacked pairs in a common plane, with the time of travel of a target image between a given pair of detectors determining th

대표청구항

A radiation scanning and detection system comprising: a plurality of optical radiation detectors positioned to detect radiation in azimuth and elevation from a remote source, each detector being adapted to provide a signal representative of said radiation, said detectors including a plurality of pai

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Lamelot ; Pierre Marie Louis ; Mousson ; Roland Georges, Infrared deviation measuring device.
  2. Bailey Gary C. (Burbank CA), Integrating IR detector imaging systems.
  3. Watkins Robert A. (Santa Barbara CA), Optical scanning system.
  4. Ellis ; Stafford Malcolm, Optical sensors.
  5. Dapper James C. (Cincinnati OH) Niemi Paul A. (Cincinnati OH), Scanning optical spectral analyzer employing plural detectors.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Workman John (Filton GB2), Article orientation by sensing beam arrival times at plural detectors.
  2. Oshita Masahide (Hamamatsu JPX) Isai Masaaki (Hamamatsu JPX) Fukunaka Toshiaki (Samukawa JPX), Intermetallic compound semiconductor thin film and method of manufacturing same.
  3. Gabriel David (Kingston GB2) Audus David (Marlow GB2) Strange Norman (Chichester GB2), Laser position measurement and alignment.
  4. Treves, David; O'Dell, Thomas A., Method and apparatus for inspecting substrates.
  5. Treves, David; O'Dell, Thomas A.; Hsieh, Yung-Chieh, Method and apparatus for inspecting substrates.
  6. Okamoto Tsuguhiko (Kanagawa JPX), Sensor for detecting two dimensional angle of incidence of the sun.
  7. Okumura Eisuke (Yokohama JPX) Tsuno Katsuhiko (Yokohama JPX), Star scanner with semiconductor photosensitive elements having reticles.
  8. Ellis, Kenneth K., System architecture for a constant footprint, constant GSD, constant spatial resolution linescanner.
  9. Smith, Radford S.; Woody, Roger D., Torque-limiting bolt-and-nut assembly.
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