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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0577331 (1984-02-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 23 인용 특허 : 1 |
Methods are provided for reducing the number of projected patterns required to make two- or three-dimensional surface measurements on a sub-class of surfaces comprising relatively smooth surfaces. By including apriori knowledge about the surface to be measured, pattern ambiguities can be resolved by
A method for unambiguously identifying the location of a point within the view of a two- or three-dimensional measurement sensor with a single projected pattern comprising the steps of: projecting a binary pattern having unique codes over any span of N segments out of a total of as many as 2N segmen
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