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Method and system for determining surface profile information 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/86
  • G01B-011/24
출원번호 US-0714416 (1985-03-21)
발명자 / 주소
  • Penney Carl M. (Schenectady NY)
출원인 / 주소
  • General Electric Company (Schenectady NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 10

초록

Optical triangulation is used for determining the profile of a surface with only two photomultiplier tubes needed for optical sensing in a flying spot camera system. A feedback arrangement varies the angle at which a laser beam is applied to the surface such that the image of the beam on the surface

대표청구항

A system for determining profile information from a surface of an object comprising: (a) an optical beam source for generating an optical beam for application to the surface; (b) an image stabilization beam adjustor operable to receive the beam from said optical beam source and alter a beam deflecti

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Rss Dieter (Planegg DEX) Baumgartner Viktor (Taufkirchen DEX), Change of distance measuring apparatus.
  2. Dreyfus Marc G. (4 Arnold St. Old Greenwich CT 06870) Pellman Arnold (30 Colony Ct. Stamford CT 06905), Electro-optical triangulation rangefinder for contour measurement.
  3. Green Leland D. (Sierra Madre CA), Imagery with constant range lines.
  4. Green Leland D. (Sierra Madre CA), Imagery with constant range lines.
  5. Himmel David P. (Dallas TX), Laser measuring system for inspection.
  6. Redman John D. (Newbury GB2) Wall Michael R. (Reading GB2), Methods and apparatus for measuring variations in distance to a surface.
  7. Mundy Joseph L. (Schenectady NY) Porter ; III Gilbert B. (Schenectady NY) Cipolla Thomas M. (Ballston Lake NY), Non-contact measurement of surface profile.
  8. Waters James P. (Ellington CT) Thornton Robert K. (Coventry CT), Noncontact optical gauging system.
  9. Westby Ola (Nordosletta NO), Procedure and apparatus for determining the geometrical shape of a surface.
  10. Carl Norman J. (La Habra CA), Scanning optical system.

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Huang, Chen-Yi; Tseng, Te-Sheng; Hsu, Wen-Hung, Apparatus for detecting position and depth and a method thereof.
  2. Spina, Mario J.; Desiderio, Anthony M., Body spatial dimension mapper.
  3. Horn James N. (Seattle WA), Contour measurement using time-based triangulation methods.
  4. Gurny Werner (Wadgassen DEX), Coordinate measuring and testing machine.
  5. Sanderson Arthur C. (Williamstown MA) Weiss Lee E. (Pittsburgh PA) Nayar Shree K. (Pittsburgh PA), Fiber optic solder joint inspection system.
  6. Abshire James B. (Laurel MD), Method and system for determining surface profile information.
  7. Ludewig Howard W. ; McClallen Samuel L. ; Varol Ilhan, Method and system for determining weld bead quality.
  8. Svetkoff Donald J. ; Kilgus Donald B. T., Method and system for suppressing unwanted reflections in an optical system.
  9. Chagnot, Christophe, Monitoring method and device by shadowscopy.
  10. Lu Huizong, Optical apparatus for determining the height and tilt of a sample surface.
  11. Muller-Fiedler, Roland; Sautter, Helmut; Schneider, Joachim; Pfefferseder, Anton; Bernhard, Winfried; Mueller, Andre; Hensel, Andreas; Oppelt, Ulrich; Mueller, Lutz, Optical sensor.
  12. Beraldin J. Angelo,CAX ; Blais Francois,CAX ; Rioux Marc,CAX ; Domey Jacques,CAX, Position sensitive light spot detector.
  13. Carlson, Jeffrey J.; Giles, Michael K.; Padilla, Denise D.; Davidson, Jr., Patrick A.; Novick, David K.; Wilson, Christopher W., Reduction of background clutter in structured lighting systems.
  14. Kishimoto Hideo (Chofu JPX) Tsubakimoto Hirohisa (Hachiouji JPX) Nakajima Takao (Chofu JPX), Sectional form measuring apparatus.
  15. Nayar Shree K. (Pittsburgh PA) Sanderson Arthur C. (Williamstown MA) Weiss Lee E. (Pittsburgh PA) Simon David A. (Pittsburgh PA), Solder joint inspection system and method.
  16. Xie, Guangping; Jia, Ming; Zhai, Zirong; Trallori, Paolo; Harding, Kevin George; Song, Guiju, Surface roughness measurement device.
  17. Gonzo,Lorenzo; Simoni,Andrea; Gottardi,Massimo; Beraldin,J. Angelo, System and method of light spot position and color detection.
  18. Yonescu William E. (Dix Hills NY) Stern Howard K. (Greenlawn NY), Three dimensional object surface determination with automatic sensor control.
  19. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.
  20. Nakajima Masato,JPX ; Yamaguchi Junichi,JPX ; Akita Hiroya,JPX ; Tsuji Yoshihiro,JPX ; Sasaki Kazuyuki,JPX ; Ishikawa Naoto,JPX, Vehicle surroundings monitor with obstacle avoidance lighting.
  21. Shioya Makoto (Tokyo JPX) Adachi Masao (Sagamihara JPX), Visual sensor system.
  22. McLaughlin Michael H. (Scotia NY) Penney Carl M. (Schenectady NY) Sundell Robert E. (Clifton Park NY), Weld bead wetting angle detection and control.
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