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Random pattern lock and key fault detection scheme for microprocessor systems

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-011/04
출원번호 US-0663526 (1984-10-22)
발명자 / 주소
  • Rosswurm Mark A. (Jackson Township
  • Allen County OH) Kessler Leland L. (Lima OH)
출원인 / 주소
  • Westinghouse Electric Corp. (Pittsburgh PA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 6

초록

A microprocessor-based electronic control unit utilizes a random pattern lock and key failure detection scheme to detect failures in the system being controlled or the control unit itself. The microprocessor system is programmed to receive a random data word, to output the same data word, and to per

대표청구항

An electronic control unit comprising: storage means having an input for receiving a random data word having a plurality of bits; a data processor having an input for receiving said random data word from said storage means and having an output; said data processor being adapted to read said random d

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Fasang Patrick P. (Mount Laurel NJ), Built-in apparatus and method for testing a microprocessor system.
  2. Higashiyama Kazuhiro (Atsugi JPX), Computer monitoring system for indicating abnormalities in execution of main or interrupt program segments.
  3. Lasser, George A., Dual input watchdog timer.
  4. Kraus Mark G. (Churchill Boro PA), Electrical power system with fault tolerant control unit.
  5. Merrell Gregory L. (Cleveland Heights OH) Bernhard Theodore L. (Mentor On The Lake OH), Fault monitor for numerical control system.
  6. Stackhouse Kenneth B. (San Jose CA) Hill William D. (San Jose CA), Testable time delay.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Wendt Rolf H. G. (Phoenix AZ), Automatic microprocessor fault recovery system.
  2. Subramanian,Balan; Chalasani,Nanchariah Raghuveera; Rahman,Javed; Wesley,Ajamu A., Causal ladder mechanism for proactive problem determination, avoidance and recovery.
  3. Fosdick Robert E. (Austin TX), Error tolerant microprocessor.
  4. Manery, David S., Fuel cell system automatic power switching method and apparatus.
  5. Tomisawa Naoki (Gunma JPX) Hoshino Yukio (Gunma JPX) Fukushima Masashi (Gunma JPX) Hamada Toru (Gunma JPX), Method and system for inspecting microprocessor-based unit and/or component thereof.
  6. Jrgen Bruninger (Stuttgart DEX), Method for controlling a computer-final control element and computer coupled with a final control element.
  7. Remein Duane (Rocky Point NY), Software error detection apparatus.
  8. Chalasani, Nanchariah Raghuveera; Wesley, Ajamu A.; Rahman, Javed; Subramanian, Balan, Using stochastic models to diagnose and predict complex system problems.
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