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Surface roughness measuring instrument 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-005/28
출원번호 US-0757832 (1985-06-27)
우선권정보 JP-0071336 (1984-04-10); JP-0071337 (1984-04-10); JP-0071338 (1984-04-10); JP-0071339 (1984-04-10)
국제출원번호 PCT/JP85/00181 (1985-04-10)
§371/§102 date 19850627 (19850627)
국제공개번호 WO-8504707 (1985-10-24)
발명자 / 주소
  • Mizuno Satoshi (Kawasaki JPX)
출원인 / 주소
  • Mitutoyo Mfg. Co., Ltd (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 5

초록

A surface roughness measuring instrument wherein an analogue output signal from a displacement detector (32) for electrically detecting a turning displacement of a measuring arm (5) is converted into a digital signal, and this output signal is interpreted to thereby provide measure of surface roughn

대표청구항

In a surface roughness measuring instrument wherein said measuring instrument comprises a main body, a detection head including a measuring arm rotatably supported at one end thereof by said main body and having a contact element thereon a predetermined distance from a support means supporting said

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Ackerman Gary M. (Worcester MA) Edgington Nicholas (Worcester MA), Digital indicator.
  2. Whitehouse ; David John, Measuring instrument.
  3. Corbin John (9707 Barlow Rd. Fairfax VA 22031), Method and apparatus for measuring surface roughness.
  4. Salje ; Ernst ; Mushardt ; Heinrich, Method of and apparatus for examining the roughness of surfaces.
  5. Mittleman John (Panama City FL), Roughness diagnostic tool.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Goto,Tomonori; Tamai,Toshiyuki, Form measuring instrument.
  2. Marumo Chihiro (Kawasaki JPX) Toida Yoichi (Kawasaki JPX) Nemoto Masatsugu (Kawasaki JPX) Iida Junichi (Kawasaki JPX) Sakuma Kenji (Kawasaki JPX), Levelling device of roughness measuring machine.
  3. Sandhu Gurtej S. ; Hudson Guy, Method and apparatus for determining surface roughness.
  4. Bueno-Bigue, Marie-Ange; Fontaine, Stéphane; Renner, Marc, Method and device for assessing the surface condition of a material.
  5. Lane Hugh R. (Leicester GBX) Onyon Peter D. (Loughborough GBX), Metrological apparatus.
  6. Mraz, Jerry; Montgomery, Jonathan, Micro-electrical discharged based metrology system.
  7. Parsons Frederick G. (Cranston RI) Miller Mark H. (Johnston RI) Cote Eugene F. (Somerset MA), Pocket surface roughness gage.
  8. Katayama,Minoru; Kano,Takafumi, Straightness correcting method for surface texture measuring instrument, and surface texture measuring instrument.
  9. Fitts Frederick L. (Ann Arbor MI), Surface measuring instrument link arm assembly.
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