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특허 상세정보

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Height gauge

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01B-005/02   
미국특허분류(USC) 33/170 ; 33/172E ; 74/625 ; 192/4891
출원번호 US-0798523 (1985-11-15)
우선권정보 JP-0246552 (1984-11-21); JP-0177050 (1984-11-21)
발명자 / 주소
  • Takizawa Kinji (Kawasaki JPX) Mizuno Ichiro (Kawasaki JPX) Sugizaki Iwao (Kawasaki JPX)
출원인 / 주소
  • Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 23  인용 특허 : 3
초록
▼

A height gauge has a touch signal probe provided on a slider vertically movably supported on a support for the purpose of measuring the dimensions or the like of an object by bringing the probe into contact with the object. A rack is formed on the support, and a driving shaft is disposed on the slider, the driving shaft having a pinion engaged with the rack. To the driving shaft are secured a pulley to which the turning force from a motor is transmitted and a control wheel for manually rotating the driving shaft. A clutch member is interposed between the...

대표
청구항
▼

In a height gauge having a slider vertically movably mounted on a support provided on a base, measuring means for detecting the amount of relative movement between said slider and said support, and a digital indicator for digitally indicating a measured value obtained on the basis of an output from said measuring means, the improvement comprising: a driving system engaged with both said slider and said support for automatically and vertically moving said slider along said support, said driving system including a transmission mechanism which comprises a d...

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Sakata Hideo (Kawasaki JPX) Nishina Shingo (Kawasaki JPX) Yamashiro Hiroshi (Kawasaki JPX), Height gauge.
  2. Gruhler Siegfried (Vhringen DEX), Measuring device.
  3. Anichini Cesare (Florence IT), Wide-range device for measuring the linear sizes of mechanical workpieces.

이 특허를 인용한 특허 (23)

  1. Nagaike, Yasunari; Nakamura, Yasushi; Ito, Yoshiaki, Apparatus for measuring a surface profile.
  2. Jordil, Pascal; Zanier, Adriano; Zufferey, Charles-Henri, Column for measuring longitudinal dimensions.
  3. Niemczak, Stephen; Montgomery, Jr., Jerome; Harvey, Anthony; Yuan, Harrison, Digital height rod.
  4. Jordil, Pascal; Rouge, Claude; Zufferey, Charles-Henri, Dimension-measuring column and method for entering a command to switch the measure mode in such a column.
  5. Gass, Bruno W.; Avelar, Manuel L., Electronic measuring device.
  6. Greenslade Joe E. (P.O. Box 330865 Fort Worth TX 76163), Fastener dimension measuring machine.
  7. Michael L. Hayes, Gauge especially adapted for measuring the frame height of race cars and method of using the same.
  8. Jang Kwon-yuong,KRX, Grinding apparatus for semiconductor wafers.
  9. Mariller, Serge; Granges, Sebastien, Height gauge.
  10. Nobuyuki Hama JP; Yoichi Toida JP; Yuwu Zhang JP, Height gauge.
  11. Bailey Boice R., Height gauge support stand.
  12. Eaton, Homer L., Laser beam delivery in a spatial measuring device.
  13. Fischer, Helmut, Measurement stand for holding a measuring instrument.
  14. Strack, Peter; Stockburger, Jens; Ostric, Zoran, Measuring device for fast measurements.
  15. Takai,Nozomi; Oguri,Masaaki, Measuring method and measuring apparatus.
  16. Pabst Otto (Meransen ITX), Mechanical transmission, particularly for cableway winches.
  17. Li,William Weigong; Zuleta,Marco; Larrea,Pablo; Galvez,Santiago, Method and apparatus for maximizing liquid aspiration from small vessels.
  18. Montgomery, Robert Arthur; Snow, Christopher Gordon, Methods and apparatus for demonstrating laws of physical chemistry.
  19. Eaton, Homer L., Motorized coordinate measuring device.
  20. Niemczak, Stephen; Harvey, Anthony; Yuan, Harrison, Portion of a scale.
  21. Otsubo,Seiichi; Takesako,Koji; Fukuda,Mitsuru, Slider device and measuring instrument.
  22. Nobuhisa Nishioki JP; Nobuhiro Ishikawa JP, Touch signal probe.
  23. Goenka, Dipali; Palit, Subrata, Woven fabric with bulky continuous filaments yarns and related manufacturing methods.

IPC 상위 출원인