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Stimulated scanning infrared imaging system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04N-005/33
출원번호 US-0804725 (1985-12-05)
발명자 / 주소
  • Smith Daniel P. (Ballston Spa NY) Lillquist Robert D. (Schenectady NY)
출원인 / 주소
  • General Electric Company (Schenectady NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 3

초록

A scanning infrared display system capable of variable magnification and high spatial resolution measures the emitted infrared radiation caused by the scanning of a highly collimated energy source beam on the surface to be imaged. The resulting infrared emissions are collected with a high sensivity

대표청구항

A stimulated scanning infrared imaging system for scanning object surfaces comprising: a directed energy source for providing a collimated illuminating beam; illuminating beam deflection means for controlling illuminating beam movement over the surface of the object to be imaged; infrared detection

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Harney Robert C. (Acton MA), Infrared radar system.
  2. Holly Sandor (Woodland Hills CA) Erdelyi Emery (Canoga Park CA), Non-cryogenic infrared position and image sensor.
  3. Layton Allen C. (Orlando FL) Zinn ; Jr. Werner G. (Orlando FL) Mendez Antonio J. (Winter Park FL) Howle Robert E. (Orlando FL) Bayston Thomas E. (Maitland FL), Passive and/or active imaging system.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Wood Don E. (Irvine CA) Scharf Wayne (Silverado CA), Agricultural infrared thermometer.
  2. DiMarzio,Charles M.; Warger, II,William C., Confocal reflectance microscope system with dual rotating wedge scanner assembly.
  3. Youngs, Eric Geoffrey Dunlop; Cox, Raymond Samuel; Blackmore, Kevin Daryl, Imaging arrangement.
  4. Draggoo Vaughn G. (Livermore CA) Morton Richard G. (San Diego CA) Sawicki Richard H. (Pleasanton CA) Bissinger Horst D. (Livermore CA), Optical absorption measurement system.
  5. DiMarzio,Donald; Weir,John Douglas; Chu,Steven; Fonneland,Nils Jakob; Leyble,Dennis John, Spectral filter system for infrared imaging of substrates through coatings.
  6. DiMarzio,Don; Silberstein,Robert; Weir,John, System and method for imaging of coated substrates.
  7. Weir,John Douglas; DiMarzio,Donald; Chu,Steven; Silberstein,Robert P., System for detecting structural defects and features utilizing blackbody self-illumination.
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