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Solder process inspection diffuser assembly 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/47
출원번호 US-0786609 (1985-10-11)
발명자 / 주소
  • Schoenbaum Gary L. (Newtown CT) Latanzi Lewis A. (Roxbury CT) Hedrick Stephen L. (Danbury CT) Johnson Harold V. (Danbury CT)
출원인 / 주소
  • Benchmark Industries Incorporated (Manchester NH 02)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 6

초록

An optical unit for inspecting the soldered surface of a printed circuit board incorporates a thick-walled translucent concave diffuser dome with a hollow central cavity facing the surface under inspection, lamps directing illumination on the exterior of the dome, inspection portals spaced around th

대표청구항

An optical inspection unit for inspecting an irregular surface of an object such as the solder surface of a substantially flat printed circuit board comprising means supporting the object while exposing its surface to be inspected, a maneuvering base adjacent to the supported object and having a mou

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Plummer ; William T., Defocused unicell photometer with diffusion zone.
  2. Gross ; Harvey Andrew ; Frey ; Harry Robert ; Messner ; John David ; Wa lters ; Raymond Frederick, Method for inspecting cathode-ray-tube window for objectionable cord.
  3. Mullane ; Jr. William I. (Cincinnati OH), Method of and apparatus for optically detecting anomalous subsurface structure in translucent articles.
  4. Sharp Benny H. (Yukon OK), Method of and video system for identifying different light-reflective surface areas on articles.
  5. Miyahara ; Junji ; Kato ; Hisatoyo, Rear projection screens.
  6. Galbraith, Lee K., Scanning contaminant and defect detector.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. King Steven Joseph ; Ludlow Jonathan Edmund, Arc illumination apparatus and method.
  2. James P. Turner ; Salvatore R. Trinchera ; Charles H. Zierdt, Automatic circular saw tooth inspection system and method.
  3. King Steven Joseph ; Ludlow Johathan Edmund ; Schurr George, Inspection method.
  4. Kumagai Ryohei (Tokyo JPX), Lighting system for camera.
  5. Esrig Paul (Saratoga CA) Hansotte Eric James (Sunnyvale CA), Method and apparatus for detecting non-uniformities in reflective surafaces.
  6. King Steven Joseph ; Ludlow Jonathan Edmund ; Chouinard Jon ; Schurr George, Ring illumination apparatus for illuminating reflective elements on a generally planar surface.
  7. Ludlow Jonathan Edmund ; King Steven Joseph, System and method for arithmetic operations for electronic package inspection.
  8. King Steven Joseph ; Ludlow Jonathan Edmund, System and method for image subtraction for ball and bumped grid array inspection.
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